dilatometrie

DIL 402 Expedis Select, Supreme & Supreme HT

Dilatometrie neu definiert. 

Das Dilatometer DIL 402 Expedis Select und Supreme repräsentiert modernste Dilatometer-Technik und ist für eine Vielzahl anspruchsvoller Applikationen konzipiert.

Alle Geräte der DIL Expedis-Serie sind mit der wegweisenden NanoEye Messezelle ausgestattet – eine neue Dimension in Messbereich und Genauigkeit.

Es ist die erste horizontale Dilatometer-Serie auf dem Markt, die Kraftmodulation erlaubt und somit die Lücke zwischen Dilatometrie und thermomechanischer Analyse (TMA) unter oszillierender Last schließt.

Zwei Versionen des DIL 402 Expedis wurden speziell für den Bereich Forschung & Entwicklung, aber auch für anspruchsvolle Applikationen in der Industrie entwickelt: Das umfangreich ausgestattete Modell Supreme und das erweiterbare Modell Select.

NanoEye Jeder Nanometer zählt. 

Eine neue Dimension in Messbereich und Genauigkeit

In der klassischen Dilatometrie sind die beiden Parameter Messbereich und Auflösung meistens nicht kombinierbar. Erhöht sich die Auflösung, verkleinert sich gewöhnlich der Messbereich und umgekehrt. NanoEye, das neuartige optoelektronische Wegmesssystem, besticht mit perfekter Linearität und maximaler Auflösung über einen bis dato unerreichten Messbereich.

Funktionsprinzip

Dehnt sich eine Probe während einer Messung aus, bewegen sich alle grünen Komponenten in der Grafik durch Linearführung (blau) nach hinten. Der optische Encoder bestimmt die zugehörige Längenänderung direkt auf der entsprechenden Skala.

Hauptmerkmale

Maximale Flexibilität & Hoher Probendurchsatz

Der Ofenschlitten für bis zu zwei Öfen ermöglicht es, den Temperaturbereich von -180 °C bis 2000 °C abzudecken oder alternativ den Probendurchsatz zu erhöhen.

Die Kombination aus Doppel-Ofen-Design und Doppel-Probenhalter erhöht die Anzahl der möglichen Messungen und somit die Produktivität der Apparatur signifikant.

Ein oder zwei Öfen, manuelle oder motorisierte Ofenbewegung, Einzel- oder Doppel-Probenhalter, Rohr- oder Stab-Probenhalter... dies sind nur einige der Eigenschaften von Expedis Select oder Supreme, um nahezu jeder Applikation gerecht zu werden.

Hauptmerkmale

Automatische Probenlängenbestimmung & MultiTouch

Die Messung der Probenlänge mit einem Messschieber kann, besonders bei weichen Proben, zu einer Streuung der Ergebnisse führen. Eine weitere Besonderheit des DIL 402 Expedis ist die Möglichkeit, die ursprüngliche Probenlänge automatisch mit der vordefinierten Anpresskraft zu bestimmen, die auch während der Messung vorliegt.  Auf diese Weise sind reproduzierbare und präzise Messergebnisse sichergestellt.  

Eine stabile Positionierung der Proben innerhalb des Probenhalters ist ein entscheidender Faktor für erfolgreiche Messungen. Durch die MultiTouch-Funktion wird die Probe völlig automatisch in die optimale Position „gerüttelt“. 

Für eine genaue Temperaturmessung an Proben mit variablen Längen sorgt das einfach verstellbare Thermoelement. Mittels einer geführten Kapillare kann es in Längsrichtung genau neben der Probe positioniert werden.

Hauptmerkmale

3 Gaswege & vorbereitet für Emissionsgasanalyse

Bei Verwendung von drei Massendurchflussreglern (MFCl) werden die Gasflusswege innerhalb der Apparatur aufgeteilt: Das Schutzgas fließt zunächst durch die Messzelle und tritt dann in die Probenkammer ein, wohingegen das Spülgas direkt in die Probenkammer geführt wird. Alle Schutz- und Spülgase verlassen die Apparatur zusammen über den Ofenauslass.

Der vakuumdichte Aufbau des DIL 402 Expedis mit SiC-Ofen ist bestens zum Anschluss an ein QMS oder ein  FT-IR über eine Kapillarkopplung geeignet. Dadurch ist die Untersuchung des Ausgasens von Verunreinigungen, Additiven, organischen Bindemitteln und/oder Zersetzungsprodukten möglich.

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Technische Daten

Heizrate
0,001 ... 100 K/min
Probenhaltersystem
Einzel-und Doppel/Differenz-System
Wegaufnehmersystem
NanoEye

Temperaturbereich:
Select: -180°C … 1600°C
Supreme: -180°C … 2000°C
Supreme HT: (-180°C)* ... RT ... 2800°C

Temperaturgenauigkeit:
1 K

Temperaturpräzision:
0.1 K

Wiederholbarkeit des mittleren CTE:
10-8 1/K

Messbereich:
± 10000 μm ... ± 25000 μm

Auflösung:
0,1 nm ... 1nm
(über den gesamten Messbereich)

Gasregelung:
1-Weg-, optional 3-Weg-Schalter

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