熱拡散率と熱伝導率

LFA 467 HT HyperFlash

フラッシュアナライザ

熱拡散率と熱伝導率測定の新次元 – 高速、簡単、経済的 

キセノンフラッシュ使用の室温から1250℃までの高精度熱拡散率及び熱伝導率測定
LFA 467 HT HyperFlash® は、既に確立されているLFA 467 HyperFlash®®技術をベースにし、革新的な光源システムによってレーザー防護を必要としません。長寿命のキセノンランプ仕様での1250℃までの測定評価が可能です。

ZoomOptics – 視野の最適化による正確な測定結果
特許のZoomOptics システム(特許番号:DE 10 2012 106 955 B4  2014.04.03) は、検出器の視野を最適化し、開口部絞りによって起こる測定誤差の影響をなくし、測定結果の精度が飛躍的に向上。

超高速サンプリング速度(最高2MHz)と極めて短いパルス幅(最小20μs)により、より薄く、高い熱伝導材料の測定を可能にします
LFA 467 HyperFlash®®シリーズのデータ取込速度は、2MHzまで増加。この取込速度は、IR検出器とパルスマッピングチャンネルの両方に適用されます。従って、非常に短いテスト時間が必要な高熱伝導あるいは薄い材料などの信頼性の高いテストが可能になります。金属箔(0.3mm)やポリマーフィルム(30μm)などをテストする際、最適なサンプリング速度とパルス幅を選択することができます。また特許のパルスマッピングシステムが、有限パルス幅効果や熱損失を考慮し計測をします(特許番号:US7038209 B2; US20040079886; DE10242741)。

特定雰囲気や酸化を防止するための真空密閉構造
それぞれの測定前の自動排気機能によって、内蔵ポンプシステムが特定雰囲気での測定をサポートします。また外部付加のポンプシステム接続も可能です。真空タイト白金加熱炉が、50 K/minまでの加熱速度を実行します。

高い測定量と高い精度 – 4試料4熱電対
標準内蔵のオートサンプルチェンジャー(ASC)により、全温度範囲に渡る効率的な試料測定が可能。ASCの4つの試料位置それぞれに、独立した熱電対が備えられており、これにより、試料と温度測定位置間の温度偏差を最小限にすることができます。ASCは、試料寸法12.7mm(円形)及び10mm(円形及び角形)用にデザインされています。

最小の設置面積
LFA 467 HT HyperFlash®は、1250℃に到達可能なランプ使用。オートサンプルチェンジャーを装備した加熱炉は全温度範囲をカバーし、LFA 467 HyperFlash®®シリーズの装置小スペースを維持しています。高温下においても、内蔵の水冷回路により、周辺機器の温度を安全な範囲に保持し、IR検出器の液体窒素消費量を抑制しています。

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技術仕様

温度範囲
室温~1250°C
IR検出器
InSb: 室温~1250°C
検出器再充填装置
加熱速度(最高)
50 K/min
Schematic of the LFA 467 HT HyperFlash; the light beam heats the lower sample surface and an IR detector measures the temperature increase on the upper sample surface

データアクイジション速度:
最高2MHz (温度検出及びパルスマッピング共)

熱拡散率:
0.01 mm2/s~2000 mm2/s

熱伝導率:
< 0.1 W/(mK)~4000 W/(mK)

特許パルスマッピング技術
有限パルス補正と改良Cp解析用

雰囲気:
不活性、酸化性、ガス静止及びガスフロー

到達真空度:
10-4 mbar

試料ホルダー:
円形及び角形試料用

ガス制御:
MFC 及び AutoVac

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