Novas Dimensões na Medição de Difusividade Térmica e Condutividade – Rápida, Simples, Econômica.

Mais ampla faixa de temperatura disponível, de -100°C a 500°C
Com uma única configuração de instrumento – que é, sem a necessidade de se trocar o detector ou o forno – o LFA 467 HyperFlash®® pode executar medidas de -100°C à 500°C. Juntamente com a mais ampla gama de acessórios no mercado, o instrumento abre as portas completamente para novas dimensões na determinação de propriedades termo físicas.

Rendimento da amostra até 4 vezes maior, devido suporte de amostras para 16 amostras
Uma vantagem exclusiva do LFA 467 HyperFlash®® é esta habilidade para se medir simultaneamente até 16 amostras ao longo de toda faixa de temperatura. Isto permite o rendimento máximo da amostra com um mínimo de entrada de tempo e esforço operacional.Sistemas de reabastecimento estão disponíveis para reabastecimento automático do Dewar em ambos os detectores e o forno, permitindo operação ininterrupta do sistema LFA, dia e noite.

ZoomOptics para maior precisão dos resultados de medição sem medição de erros
A patente do sistema ZoomOptics otimiza o campo de visão do detector, eliminando assim algumas influencias causadas parada de abertura. O resultado é um aumento significantena precisão dos resultados medidos.

Gravação ultra-rápida dos arquivos de medidas para amostras finas (2 MHz)
Filmes finos e materiais de alta condutividade requerem uma alta taxa de aquisição de dados para a precisão de gravação em amostras que têm rápido aumento de temperatura na superfície superior. O LFA 467 HyperFlash® oferece uma taxa de amostragem de 2 MHz – um valor sem precedentes do sistema LFA.

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Dados Técnicos

Faixa de temperatura
-100°C à 500°C, com um único forno
Menor contato em medidas
de aumento de temperatura, com detector IR
Taxa de aquisição de dados
até 2 MHz (para detecção de ambas as temperaturas e mapeamento de pulso)
Schematic of the LFA 467 HyperFlash®; the light beam heats the lower sample surface and an IR detector measures the temperature increase on the upper sample surface

Faixa de medição de difusividade térmica:
0.01 mm2/s to 2000 mm2/s

Faixa de medição de condutividade térmica:
< 0.1 W/(m*K) to 4000 W/(m*K)

Dimensões das amostras:
6 mm à 25.4 mm de diâmetro
0.01 mm à 6 mm de espessura

Técnica de mapeamento de pulso patenteada para correção do comprimento de pulso e determinação de cp melhorada

É compatível e está de acordo com as seguintes normas: ASTM E1461, E2585 ASTM, DIN EN 821-2, DIN 30905, ISO 22007-4, ISO 18755, ISO 13826; DIN EN 1159-2, etc.

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