Основные моменты
Метод определения тепловой диффузии в диапазоне толщин нанометров
Методы времяпролетного термоотражения
Метод определения теплопроводности в нанометровом диапазоне толщин
В связи со значительным прогрессом в разработке электронных устройств и связанной с этим необходимостью эффективного терморегулирования, точные измерения теплопроводности/теплопроводности в нанометровом диапазоне становятся как никогда важными.
Национальный институт передовой промышленной науки и технологии (AIST), Япония, уже отреагировал на требования промышленности, разработав в начале 90-х годов "метод терморефлектометрии с импульсным световым нагревом". Корпорация PicoTherm была основана в 2008 году и выпустила нано-секундный терморефлектометрический прибор "NanoTR" и пикосекундного терморефлектометрического прибора "PicoTR", которые позволяют проводить абсолютные измерения теплопроводности тонких пленок в диапазоне толщин от нескольких 10 мкм до нанометрового диапазона.
В октябре 2020 года компания PicoTherm присоединилась к группе NETZSCH в качестве дочерней компании NETZSCH Japan. В сочетании с нашими системами LFA NETZSCH теперь может предложить решение для тонких пленок в нанометровом диапазоне вплоть до сыпучих материалов в диапазоне мм.
![Испытание теплопроводности тонкопленочного ленточного кабеля](https://analyzing-testing.netzsch.com/_Resources/Persistent/3/5/f/3/35f3f3a48ace96f43039a42d09392cb55e339a3a/test_nano-871x653-600x450.webp)
В связи со значительным прогрессом в разработке электронных устройств и связанной с этим необходимостью эффективного терморегулирования, точные измерения теплопроводности/теплопроводности в нанометровом диапазоне становятся как никогда важными.
Национальный институт передовой промышленной науки и технологии (AIST), Япония, уже отреагировал на требования промышленности, разработав в начале 90-х годов "метод терморефлектометрии с импульсным световым нагревом". Корпорация PicoTherm была основана в 2008 году и выпустила нано-секундный терморефлектометрический прибор "NanoTR" и пикосекундного терморефлектометрического прибора "PicoTR", которые позволяют проводить абсолютные измерения температуропроводности тонких пленок в диапазоне толщин от нескольких 10 мкм до нанометрового диапазона.
Метод
Методы терморефлектограммы во временной области - Метод лазерной вспышки для тонких пленок
NanoTRсовременная технология обработки сигналов позволяет проводить высокоскоростные измерения. В этом терморефлектометрическом приборе лазерный импульс длительностью 1 нс периодически (20 мкс) облучает образец.
Полученный температурный отклик подается на CW-лазер (зондирующий лазер). Отличное соотношение с/ш может быть достигнуто за счет высокоскоростной интеграции повторяющихся сигналов. С помощью программного обеспечения можно легко переключаться между конфигурациями RF и FF для широкого спектра образцов.
NanoTR прибор соответствует стандартам JIS R 1689, JIS R 1690 и SI, прослеживаемым по стандарту времени тепловой диффузии тонких пленок (RM1301-a), поставляемому AIST.
![](https://analyzing-testing.netzsch.com/_Resources/Persistent/2/5/f/c/25fc7534e9277e62fc4251517e877e1be3180f57/Instrument_setup_of_NanoTR_apparatus-600x291.webp)
Технические характеристики
NanoTR | ||
---|---|---|
Лазер накачки | Ширина импульса Длина волны Диаметр луча | 1 нс 1550 нм 100 мкм |
Зондовый лазер | Ширина импульса Длина волны Диаметр луча | непрерывный 785 нм 50 мкм |
Элементы измерения | Тепловая диффузия и эффузия, межфазное сопротивление | |
Толщина пленки образца (радиочастотный метод) | Смола Керамика Металл | 30 нм ... 2 мкм 300 нм ... 5 мкм 1 мкм ... 20 мкм |
Толщина пленки образца (метод FF) | Толще 1 мкм | |
Подложка | Материал Размер Толщина | Непрозрачные/прозрачные 10 ... 20 мм кв. 1 мм макс. |
Тепловая диффузия | Диапазон | 0.01 ... 1000 мм²/с |
Точность | ± 6,2% при времени измерения 40 мин, для CRM 5808A в режиме RF, толщина 400 нм | |
Повторяемость | ± 5% | |
Программное обеспечение | Расчет тепловых свойств, многослойный анализ, база данных |
Программное обеспечение
Отображение и анализ на месте 100 000 shots
Современное программное обеспечение для измерений и анализа NanoTR/PicoTR имеет простой в обращении пользовательский интерфейс, что позволяет точно определять тепловые свойства тонких пленок. С помощью программного обеспечения можно регулировать фокусировку лазерного луча и получать ПЗС-изображение.
NanoTR/PicoTR программное обеспечение работает под управлением Microsoft Windows.
График показывает, что за 1 мкс времени измерения может быть получена одна измерительная кривая.
![](https://analyzing-testing.netzsch.com/_Resources/Persistent/7/5/f/a/75fadb5ce18e7f6fe16d2ad9ef90cee1f5330182/Analysis-806x819.webp)
Получение результатов за считанные минуты
![](https://analyzing-testing.netzsch.com/_Resources/Persistent/9/7/f/4/97f4433aa6fe5b8c6f470f6947768a1fd4b6b215/Measurement-843x746.webp)
Сопутствующие устройства
- PicoTR
Терморефлексия во временной области с использованием импульсного светового нагрева
- Ширина импульса: 0,5 пс
- 10 нм ... 900 нм Толщина образца
- 0.01 ... 1000 мм²/с Диапазон
- LFA 467 HyperFlash®
- LFA 457 MicroFlash®
Определение теплофизических свойств
- Диапазон температур: от -125°C до 1100°C
- Две различные печи, заменяемые пользователем
- Измерение тепловой диффузии и теплопроводности
![](https://analyzing-testing.netzsch.com/_Resources/Persistent/0/8/4/8/08489d0bce6cd6d133428a9abb033c31653ab7d2/NETZSCH%20Service-1650x825.webp)
Консультации и продажи
У вас есть дополнительные вопросы о приборе или методе, и вы хотели бы поговорить с торговым представителем?
Обслуживание и поддержка
У вас уже есть прибор, и вам нужна техническая поддержка или запасные части?