Webinar

28.10.2026

Ρεομετρία Chirp: Ταχύς προσδιορισμός των ιξωδοελαστικών χαρακτηριστικών με το ρεόμετρο Kinexus

Αγγλικά
Ο ειδικός μας καλεσμένος:
Δρ. Ντάνιελ Κέρτις, Πανεπιστήμιο Σουάνσι

Οι ταλαντωτικές σαρώσεις συχνότητας αποτελούν ακρογωνιαίο λίθο του ρεολογικού χαρακτηρισμού, παρέχοντας πολύτιμες πληροφορίες σχετικά με τη χρονικά εξαρτώμενη συμπεριφορά και τη μικροδομή σύνθετων υλικών. Ωστόσο, οι συμβατικές σαρώσεις συχνότητας μπορεί να είναι χρονοβόρες, ιδίως όταν απαιτούνται μετρήσεις σε ευρύ φάσμα συχνοτήτων ή σε υλικά των οποίων οι ιδιότητες εξελίσσονται με την πάροδο του χρόνου.

Η ρεομετρία chirp προσφέρει μια εναλλακτική προσέγγιση, στην οποία εφαρμόζεται μια συνεχώς μεταβαλλόμενη συχνότητα ταλάντωσης εντός μιας ενιαίας, προσεκτικά σχεδιασμένης κυματομορφής. Αυτό επιτρέπει τον χαρακτηρισμό της γραμμικής ιξωδοελαστικής απόκρισης ενός υλικού σε ένα ευρύ φάσμα συχνοτήτων σε ένα κλάσμα του χρόνου που απαιτείται για μια συμβατική σάρωση συχνότητας.

Αυτό το διαδικτυακό σεμινάριο θα παρουσιάσει τις βασικές αρχές της ρεομετρίας chirp, συμπεριλαμβανομένου του σχεδιασμού της κυματομορφής, της ανάλυσης του σήματος και των πρακτικών παραμέτρων που απαιτούνται για την απόκτηση αξιόπιστων μετρήσεων. Θα συζητηθούντα πλεονεκτήματα καιοι περιορισμοί της τεχνικής, μαζί με παραδείγματα που απεικονίζουν τον τρόπο με τον οποίο τα chirps μπορούν να χρησιμοποιηθούν για τη διερεύνηση υλικών που εξελίσσονται ραγδαία με την πάροδο του χρόνου.

Τέλος, θα παρουσιάσουμε την εφαρμογή των μετρήσεων «chirp» στο περιστροφικό ρεόμετρο Kinexus της NETZSCH, παρέχοντας πρακτικές οδηγίες για τη ρύθμιση, τη διεξαγωγή και την ερμηνεία των πειραμάτων «chirp».

1η συνεδρία

28 Οκτωβρίου 2026
10 - 11 π.μ. CEST

2η συνεδρία

28 Οκτωβρίου 2026
3 - 4 μ.μ. CEST / 10 - 11 π.μ. EDT

Εξερευνήστε την πλήρη σειρά ρευστομηχανικής περιστροφής

Αυτή η συνεδρία αποτελεί μόνο ένα μέρος της σταδιακής μας περιήγησης στον τομέα της περιστροφικής ρεομετρίας. Εξερευνήστε τα επόμενα διαδικτυακά σεμινάρια της σειράς και εξασφαλίστε τη θέση σας.

Δείτε ολόκληρη τη σειρά
AI Overview
An error occurred. Please try again.