Webinar

28.10.2026

Reometria typu „chirp”: szybka charakterystyka właściwości lepkosprężystych za pomocą reometru Kinexus

angielski
Nasz gość specjalny:
dr Daniel Curtis, Uniwersytet w Swansea

Przeglądy częstotliwości oscylacyjnych stanowią podstawę charakterystyki reologicznej, dostarczając cennych informacji na temat zachowania w funkcji czasu oraz mikrostruktury złożonych materiałów. Tradycyjne przeglądy częstotliwości mogą jednak być czasochłonne, zwłaszcza gdy konieczne są pomiary w szerokim zakresie częstotliwości lub w przypadku materiałów, których właściwości zmieniają się w czasie.

Reometria typu chirp stanowi alternatywne podejście, w którym stosuje się ciągle zmieniającą się częstotliwość oscylacyjną w ramach jednej, starannie zaprojektowanej przebiegu fali. Pozwala to na scharakteryzowanie liniowej odpowiedzi lepkosprężystej materiału w szerokim zakresie częstotliwości w ułamku czasu wymaganego do wykonania konwencjonalnego badania częstotliwościowego.

Podczas tego webinarium zostaną przedstawione podstawowe zasady reometrii typu chirp, w tym projektowanie przebiegów, analiza sygnałów oraz praktyczne kwestie niezbędne do uzyskania wiarygodnych pomiarów. Omówione zostanązalety i ograniczenia tej techniki wraz z przykładami ilustrującymi, w jaki sposób można wykorzystać chirpy do badania materiałów, których właściwości szybko zmieniają się w czasie.

Na koniec zademonstrujemy przeprowadzenie pomiarów metodą chirp na reometrze obrotowym Kinexus firmy NETZSCH, przedstawiając praktyczne wskazówki dotyczące konfiguracji, przeprowadzania i interpretacji eksperymentów z wykorzystaniem tej metody.

Sesja 1

28 października 2026 r.
godz. 10:00–11:00 czasu środkowoeuropejskiego (CEST)

Sesja 2

28 października 2026 r.
15:00–16:00 czasu środkowoeuropejskiego (CEST) / 10:00–11:00 czasu wschodnioamerykańskiego (EDT)

Zapoznaj się z pełną serią publikacji poświęconych reologii rotacyjnej

To spotkanie stanowi jedynie część naszej serii, w której krok po kroku omawiamy reometrię rotacyjną. Zapoznaj się z harmonogramem kolejnych webinarów z tej serii i zarezerwuj sobie miejsce.

Zobacz całą serię
AI Overview
An error occurred. Please try again.