termoelektrický

Ag1-xPb18MTe20 — Tepelná vodivost

Tento graf znázorňuje měření provedená na AgPb₁₈Te₂₀ v teplotním rozmezí od 150 °C do 370 °C.

Mřížkovou tepelnou vodivost lze vypočítat z naměřené tepelné vodivosti. Zde je znázorněna teplotní závislost celkové tepelné vodivosti (_λtot) a mřížkové tepelné vodivosti (_λlatt) materiálu_AgPb18BiTe20.

Vložka znázorňuje teplotní závislost mřížkové tepelné vodivosti materiálu Ag1-xPb18BiTe20 (x = 0, 0,3) ve srovnání s mřížkovou tepelnou vodivostí materiálu AgPb18BiTe20 (znázorněnou symbolem +). (měření provedeno pomocí přístroje LFA 457 MicroFlash^®®)

Registrace k poštovní službě

Graf tepelné vodivosti materiálu Ag1-xPb18BiTe20, znázorňující vývoj hodnot λtot a λlatt v rozmezí teplot od 300 K do 700 K. Vložka zdůrazňuje vliv teploty na mřížkovou vodivost. — Ag1-xPb18MTe20 (M = Bi, Sb); publikováno Kanatzidisem a kol., Northwestern University, IL, USA [1]. Měření byla provedena v zařízení `NETZSCH` LFA 457 `MicroFlash^®` ®. Používá se typický vzorek o průměru 12,7 mm a tloušťce 2 mm.