Webinar

04.11.2026

Fra termisk diffusivitet til proceskvalitet. Anvendelser af Laser Flash Analysis inden for materialer til additiv fremstilling og termisk styring

Italiensk
kl. 10–11 CET

Den stigende udbredelseaf Additive Manufacturing (AM) åbner nye muligheder inden for design af komponenter til termisk styring, hvilket gør det afgørende at forstå, hvordan materiale, proces og mikrostruktur påvirker de endelige termofysiske egenskaber.

I dette webinar vil vi se nærmere på, hvordan Laser Flash Analysis (LFA) ikke blot kan anvendes til at bestemme Termisk ledningsevneVarmeledningsevne (λ med enheden W/(m-K)) beskriver transporten af energi - i form af varme - gennem et masselegeme som følge af en temperaturgradient (se fig. 1). Ifølge termodynamikkens anden lov strømmer varmen altid i retning af den laveste temperatur.varmeledningsevne og varmeledningskoefficient, men også som et følsomt værktøj til at vurdere kvaliteten og reproducerbarheden af produktionsprocessen.

Gennem casestudier af polymerer tilsat ledende fyldstoffer, der er udviklet ved hjælp af blanding og ekstrudering af filamenter og efterfølgende printet via FFF, samt af metal- og keramikkomponenter fremstillet ved hjælp af Additive Manufacturing, vil det blive vist, hvordan de termiske egenskaber kan sættes i relation til fortætning, porøsitet, orientering og proceshistorik.

Der vil blive lagt særlig vægt på anvendelsen af LFA-målinger som procesens »termiske aftryk« samt på anvendelsesmulighederne for additiv fremstilling inden for termisk styring af effektelektronik.

Vi glæder os til at se dig live.

Foredragsholder:
Ing. Claudio Tosto, PhD
Adjunkt | Materialevidenskab og -teknologi
Università degli Studi di Catania – Dipartimento di Ingegneria Civile-Industriale e Architettura (DICAr)

Tilmeld dig gratis med det samme!

To forskningsprojekter, en miniserie om LFA-analyse

Find ud af, hvordan LFA-analysen hjælper med at forstå materialers termofysiske egenskaber gennem to konkrete casestudier.

Oplev miniserien
AI Overview
An error occurred. Please try again.