LFA 457 MicroFlash®
Lasersalamalaite
Termofysikaalisten ominaisuuksien uusin teknologia
NETZSCH LFA 457 MicroFlash® on nykyaikaisten lasersalamajärjestelmien uusimman tekniikan mukainen. Pöydälle asennettavalla laitteella voidaan tehdä mittauksia -125 °C:n ja 1100 °C:n välillä käyttämällä kahta eri, käyttäjän vaihdettavissa olevaa uunia.
Järjestelmässä käytetyn innovatiivisen infrapuna-anturitekniikan avulla voidaan mitata näytteen takapinnan lämpötilan nousu jopa -125 °C:n lämpötiloissa.
Laitteella voidaan mitata halkaisijaltaan jopa 25,4 mm:n kokoisia small ja large näytteitä, ja integroidun näytteenvaihtolaitteen avulla mittauksia voidaan suorittaa useille näytteille samanaikaisesti.
Tyhjiötiivis rakenne mahdollistaa testit määritellyissä ilmakehissä.
Näytteenpitimen, uunin ja ilmaisimen pystysuuntainen sijoittelu helpottaa näytteen sijoittamista ja takaa samalla optimaalisen signaali-kohinasuhteen ilmaisimen signaalille.
LFA 457 MicroFlash® on nykyaikaisin ja monipuolisin LFA-järjestelmä tutkimukseen ja kehitykseen sekä kaikkiin sovelluksiin, jotka liittyvät tavanomaisten ja suorituskykyisten materiaalien karakterisointiin autoteollisuudessa, ilmailussa, astronautiikassa ja energiatekniikassa.
Tekniset tiedot
(2 vaihdettavaa uunityyppiä)
Mittausalue:
0,01 mm2/s- 1000 mm2/s(lämpödiffuusiokyky)
Mittausalue:
0,1 W/mK - 2000 W/mK (LämmönjohtavuusLämmönjohtavuus (λ, yksikkö W/(m-K)) kuvaa lämmön muodossa olevan energian kulkeutumista massakappaleen läpi lämpötilagradientin vaikutuksesta (ks. kuva 1). Termodynamiikan toisen lain mukaan lämpö virtaa aina alemman lämpötilan suuntaan.lämmönjohtavuus)
Näytteen mitat:
halkaisija 10 mm - 25,4 mm (myös 8x8 mm ja 10x10 mm, neliö)
paksuus 0,1 mm - 6 mm
Näytteenpidin:
SiC, grafiitti
Nestemäisen metallin pidin: safiiri
Näytteenpidin nesteitä varten: platina
Atmosfääri:
inertti, hapettava, pelkistävä, staattinen, dynaaminen
Tyhjiötiivis kokoonpano
10-2 mbar:iin (1 Pa) asti
Tämä laite on LabV®️-perustettu
LabV®️ ottaa tiedot analyysilaitteestasi: Se tuo automaattisesti kaikki mittaustiedot keskitettyyn ja turvalliseen tietokantaratkaisuun, LabV®️ -ohjelmistoon. Näin voit visualisoida tiedot LabV®️ -ohjelmassa ja tehdä niistä hakukelpoisia. Tietosi ovat nyt saatavilla mistä tahansa. Lisäksi sinulla on mahdollisuus luoda raportteja.
LFA 457 MicroFlash® toimii osoitteessaProteus® Windows®-ohjelmisto. Proteus® -ohjelmisto sisältää kaiken, mitä tarvitset mittauksen suorittamiseen ja saatujen tietojen arviointiin. Helposti ymmärrettävien valikoiden ja automatisoitujen rutiinien yhdistelmällä on luotu työkalu, joka on erittäin käyttäjäystävällinen ja joka mahdollistaa samalla hienostuneen analyysin. Proteus® -ohjelmisto lisensoidaan laitteen mukana, ja se voidaan luonnollisesti asentaa myös muihin tietokonejärjestelmiin.
LFA:nominaisuudet:
- Tarkka pulssin pituuden korjaus, pulssin kartoitus
- Lämpöhäviökorjaukset, kaikki kirjallisuusmallit on integroitu
- Ei-lineaarinen regressio Cowan-sovitusta varten
- Parannettu Cape-Lehmann-malli moniulotteisen lämpöhäviön ja epälineaarisen regression huomioon ottamisen ansiosta
- Säteilykorjaus puoliksi läpinäkyville näytteille
- 2- tai 3-kerroksiset järjestelmät: analyysi epälineaarisen regression ja lämpöhäviön huomioon ottamisen avulla
- Kosketusvastuksen määrittäminen monikerroksisissa järjestelmissä
- Ohjattu malli optimaalisen arviointimallin valitsemiseksi
- Ominaislämmön määrittäminen vertailumenetelmällä ja vakionäytteillä
- Integroitu tietopankki
Voit käyttää seuraavia ohjelmistoja tämän tuotteen kanssa
- LFA 457 MicroFlash® on varustettu jäähdytystermostaatilla, joka takaa parhaan mahdollisen lämpötilan ja pitkäaikaisen vakauden
- Erilaiset tyhjiöpumput mahdollistavat mittaukset alennetussa paineessa tai puhtaassa, hapettomassa ilmakehässä
- Virtausmittari puhdistuskaasua varten
- SiC:stä ja grafiitista valmistetut näytteenpitimet ja -korkit vakiomittaisia näytteitä varten
- Platinasta, alumiinista ja safiirista valmistettuja näytteenottimia on saatavana useita erikokoisia nestemäisiä näytteitä, metallisulaa, kuonaa ja kuituja varten
- Vertailunäytteet lämpödiffuusiokykyä varten
- Ominaislämmön vertailunäytteet
- Näytteenvalmistuskoneet
