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熱拡散率と熱伝導率

LFA 457 MicroFlash®

レーザーフラッシュ装置

熱物性に関する最先端技術

NETZSCH LFA 457 MicroFlash® は、最新のレーザーフラッシュシステムの最新技術に準拠しています。この卓上型装置では、ユーザーが交換可能な2種類の加熱炉を使用して、-125°Cから1100°Cまでの測定が可能です。

このシステムに採用されている革新的な赤外線センサー技術により、-125°Cの温度でも試料裏面の温度上昇を測定することができます。

この装置は、最大直径25.4 mmのsmall およびlarge 試料サイズに対応し、内蔵の試料交換装置により、複数の試料を同時に測定することができます。



試料ホルダー、加熱炉、検出器が垂直に配置されているため、試料の設置が簡素化され、同時に検出器信号の最適なS/N比が保証されます。

LFA 457 MicroFlash® は、研究開発、自動車製造、航空、宇宙、エネルギー技術における標準材料や高性能材料の特性評価に関わるあらゆる用途に対応する、最新かつ汎用性の高いLFAシステムです。

技術データ

温度範囲
-125°C~500°C、室温~1100°C、
(交換可能な2種類の加熱炉)
冷暖房率
0.01 K/分~50 K/分
レーザーパルスエネルギー
最大18 J/パルス、(出力調整可能)
NETZSCH LFA 457 MicroFlash ®の模式図。加熱炉、レーザー、熱分析用検出器のコンポーネントを示す。
LFA 457 MicroFlash®® (1100℃)の概略図

測定範囲:
0.01mm2/s~1000mm2/s(熱拡散率)

測定範囲:
0.1W/mK~2000W/mK(熱伝導率)

試料寸法:
直径10mm~25.4mm(8x8mmおよび10x10mmの正方形も)
厚さ0.1mm~6mm

試料ホルダー:
SiC、グラファイト
液体金属ホルダー: サファイア
液体用試料ホルダー: プラチナ

雰囲気:
不活性、酸化性、還元性、静的、動的

真空密閉アセンブリ
最大10-2mbar (1 Pa)

NETZSCH LFA 457 MicroFlash研究および産業における精密な熱伝導率試験用レーザーフラッシュ分析システム。
白衣に身を包んだ専門家たちが、品質分析のための先進的な検査機器やラボ技術を紹介するラボ。

この装置はLabV®‼️プライム付き

LabV®は分析装置からデータを取り込みます:すべての測定データを自動的に中央の安全なデータベースソリューション、LabV®️ ソフトウェアにインポートします。これにより、LabV®️ でデータを視覚化し、検索可能にすることができます。データはどこからでもアクセスできるようになります。さらに、レポートを作成することもできます。

応用文献

NETZSCH のMicroFlash® 検査製品を紹介する洗練されたパンフレットの束で、品質とコンサルティング・サービスを強調。

製品情報

私たちは品質だけでなく、個別のコンサルティングもお約束します。一緒にプロジェクトを始めましょう。

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NETZSCHLFA 457 MicroFlash® 熱物性試験用

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