
STA 449 F5 Jupiter®
Hienostunut laite erittäin houkuttelevaan hintaan
Täysin varustettu
Tämä tyhjiötiivis STA 449 F5 Jupiter® on rakennettu käsin erityisesti sinun sovellustasi varten. Jokainen laite toimitetaan valmiiksi konfiguroituna tarvitsemallasi tavalla, ja siinä on kaikki ne laitteisto- ja ohjelmisto-ominaisuudet, joita tarvitaan keramiikan, metallien, epäorgaanisten aineiden, rakennusmateriaalien jne. korkean lämpötilan sovelluksissa.
Paras hinta-laatusuhde
STA 449 F5 Jupiter® on korkea resoluutio, suuri alue, matala drift-tasapaino ja herkkä DSC-ominaisuus, joiden ansiosta se voi loistaa kaikissa tyypillisissä sovelluksissa laajalla lämpötila-alueella.
Ainutlaatuinen yhdistelmä - todellinen TG-DSC ja TGA suurille näytemäärille
True TGA- ja DSC-mittaukset voidaan suorittaa suurella tarkkuudella ja toistettavuudella näytelämpötiloissa ympäristön lämpötilasta 1600 °C:een. Myös TGA-mittaukset ovat mahdollisia jopa large tai painaville näytteille.
Ylhäältä ladattava - lämpövaakojen hyväksi todettu malli
STA 449 F5 Jupiter® on ylhäältä ladattava järjestelmä, jonka vaa'an muotoilu on ollut jo vuosia laboratorioissa suosittua. Syyt ovat yksinkertaiset: Näissä järjestelmissä yhdistyvät ihanteellinen suorituskyky ja helppo käsiteltävyys.
Tekniset tiedot
Lämpötilaresoluutio:
0,001 K
Vaa'an resoluutio:
0,1 μg (koko punnitusalueella)
Vaa'an ajautuminen:
< 5 μg/tunti
Suurin näytekuorma:
35000 mg (sis. upokas), vastaa TGA-mittausaluetta
Näytetilavuus:
Enintään 5 cm3 (TGA-astiat)
Enthalpiatarkkuus:
1 % (indium)
DSC-erotuskyky
(DSC-anturi tyyppi S):
1 µW
The STA 449 F5 Jupiter® toimii monipuolisella Proteus® -ohjelmistolla Windows®-käyttöjärjestelmissä. Proteus® -ohjelmisto sisältää kaiken, mitä tarvitset luotettavan mittauksen suorittamiseen ja saatujen tietojen arviointiin - tai jopa monimutkaisten analyysien tekemiseen. Proteus® -ohjelmisto lisensoidaan laitteen mukana, ja se voidaan asentaa myös muihin tietokonejärjestelmiin.
Ohjelmiston yleiset ominaisuudet:
- Monitehtäväisyys: samanaikainen mittaus ja arviointi
- Monimodulointi: eri laitteiden käyttö yhdeltä tietokoneelta
- Yhdistetty analyysi: STA-, DSC-, TGA-, DIL-, TMA- ja DMA-mittausten vertailu ja/tai arviointi yhdessä kuvaajassa
- Valittavissa oleva skaalaus
- Graafinen ja tietojen vienti
- 1. ja2. derivaatan laskeminen huippulämpötilat mukaan lukien
- Analyysien tallentaminen ja palauttaminen
- Kontekstiherkkä ohjejärjestelmä
- Iso-sertifioidun yrityksen tuottama ohjelmisto
DSC-ominaisuudet:
- Alku-, huippu-, käänne- ja loppulämpötilojen määrittäminen, mukaan lukien automaattinen piikin haku
- Eksotermisten ja endotermisten piikkien pinta-alojen (entalpioiden) analyysi valittavissa olevalla perusviivalla ja osittainen piikkipinta-ala-analyysi
- Yhdistetty analyysi: STA-, DSC-, TGA-, DIL-, TMA- ja DMA-mittausten vertailu ja/tai arviointi yhdessä kuvaajassa
- Kattava lasisiirtymäanalyysi
- Kiteisyys / kiteisyysasteKiteisyydellä tarkoitetaan kiinteän aineen rakenteellisen järjestyksen astetta. Kiteessä atomien tai molekyylien järjestys on johdonmukainen ja toistuva. Monet materiaalit, kuten lasikeramiikka ja jotkin polymeerit, voidaan valmistaa siten, että syntyy kiteisten ja amorfisten alueiden sekoitus.Kiteisyysaste
- Oksidatiivisen induktion aika (OIT) ja oksidatiivisen alkamislämpötila (OOT)Oksidatiivinen induktioaika (isoterminen OIT) on suhteellinen mittari, jolla mitataan (stabiloidun) materiaalin vastustuskykyä hapettuvalle hajoamiselle. Oksidatiivinen induktiolämpötila (dynaaminen OIT) tai oksidatiivinen alkamislämpötila (Oxidative-Onset Temperature, OOT) on (stabiloidun) materiaalin oksidatiivisen hajoamisen vastustuskyvyn suhteellinen mitta.OIT (hapettumis-induktioaika)
TGA-ominaisuudet:
- Massan muutokset prosentteina tai mg:na
- Massanmuutosvaiheiden automaattinen arviointi, mukaan lukien jäännösmassan määritys
- Ekstrapoloitu alkamis- ja loppumisajankohta
- Automaattinen perusviivan korjaus
- TGA-BeFlat® mittausvaikutusten automaattista korjausta varten
- c-DTA® laskettuun DTA-signaaliin sekä ominaislämpötilojen ja piikkialueiden arviointi (valinnainen TGA-mittauksissa)
- Super-Res nopeusohjattua massanmuutosta varten (valinnainen)
Voit käyttää seuraavia ohjelmistoja tämän tuotteen kanssa
Tarvikkeet
Kaksi menetelmää - yhdessä tehokkaampia
Järjestelmä on varustettu käyttäjän vaihdettavalla TGA-DSC-anturilla. Todellinen DSC-mittaus tai samanaikainen TGA-DSC-mittaus voidaan suorittaa myös automaattisen näytteenvaihtimen (ASC) avulla. Lisäksi on saatavana näytekannattimet TGA- ja TG-DTA-mittauksia varten.
Atmosfääri - täydellisesti ohjattu MFC:llä ja AutoVac
Kolme sisäänrakennettua massavirtaussäädintä (MFC) ohjaavat puhdistus- ja suojakaasuja, jotta näytettä ympäröivä ilmakehä pysyy optimaalisesti hallinnassa. Uunin evakuointi ja täyttö mahdollistavat näytettä ympäröivän ilmakehän vielä tarkemman hallinnan, erityisesti jauheita ja muita "kriittisesti evakuoitavia" näytteitä käsiteltäessä. AutoVac -toiminto automatisoi ja yksinkertaistaa evakuointiprosessia. Täysin ohjelmisto-ohjattuun AutoVac-palveluun sisältyy siipipyörätyyppinen kiertopumppujärjestelmä.

Erilaisia upokkaita - sopivia sovellukseesi
Saatavilla on useita eri materiaaleja ja kokoja olevia upokkaita. Vakioaltaat on valmistettu alumiinioksidista tai platinasta, ja saatavilla on myös monia muita upokkaita, esim. kultaa, zirkoniaa jne. Saatavana on myös upokkaita, joissa on kiinteä tai lävistetty kansi. Tämän large -valikoiman avulla voit valita oikean upokkaan sovellukseesi.
Automaattinen näytteenvaihtaja - antaa mielenrauhan
Tehokas ja luotettava - olet iloinen, että sinulla on se. Lisävarusteena on saatavana automaattinen näytteenvaihtaja (ASC) jopa 20 näytteelle. Sitä voidaan käyttää TGA- tai TGA-DSC-mittauksissa. ASC takaa optimaalisen upokkaiden sijoittelun ja maksimaalisen läpimenon. Esiohjelmointi mahdollistaa mittausten suorittamisen yöaikaan ja viikonloppuisin. Kun käytetään ennalta määritettyjä menetelmiä, näytteiden käsittely helpottuu entisestään.


Kaikki valmiina! - Valmiina kytkemään kehittyneen kaasun analyysiin
Kehittyneiden kaasujen analysointia (EGA) varten STA-järjestelmä voidaan liittää suoraan QMS-, FT-IR- tai GC-MS -järjestelmään tai QMS- ja FT-IR- tai GC-MS - ja FT-IR-järjestelmien yhdistelmään - myös silloin, kun se on varustettu automaattisella näytteenvaihtimella.
Sovelluskirjallisuus
Uusimmat blogiartikkelit
- 05.05.2026
Termogravimetria ja vety (osa 3): Cu:n ja CuO:n redox-reaktioiden tutkiminen vetyilmakehässä

- 08.04.2026
Uutuus: NETZSCH STA 319 Jupiter® – Kustannustehokas ratkaisu luotettavaan samanaikaiseen lämpöanalyysiin 1100 °C:n lämpötilaan asti

- 11.03.2026
Termogravimetria ja vety (osa 2): Fe₂O₃:n pelkistymisen tutkiminen eri vetypitoisuuksissa

- 17.02.2026
Termogravimetria ja vety: Redox-reaktioiden turvallinen lämpöanalyysi vetyilmakehässä

- 14.01.2026
Opi, sovella, saavuta: NETZSCH julkaisee ilmaisia verkkokursseja lämpöanalyyttisistä menetelmistä

- 08.10.2025
NETZSCH Konserni julkaisee ensimmäisen kestävän kehityksen raportin


