Nejdůležitější informace

Metoda stanovení tepelné difuzivity v rozsahu tlouštěk nanometrů

Termoreflexní metody v časové oblasti

Metoda stanovení tepelné difuzivity v rozsahu tloušťky nanometrů

S výrazným pokrokem v konstrukci elektronických zařízení a s tím související potřebou účinného tepelného managementu je přesné měření tepelné difuzivity / tepelné vodivosti v rozsahu nanometrů více než kdy jindy klíčové.

Japonský Národní institut pokročilé průmyslové vědy a technologie (AIST) reagoval na požadavky průmyslu již počátkem 90. let vývojem "termoreflexní metody ohřevu pulzním světlem". V roce 2008 byla založena společnost PicoTherm Corporation, která uvedla na trh nanosekundový termoreflexní přístroj "NanoTR" a pikosekundový termoreflexní přístroj "PicoTR", které umožňují absolutní měření tepelné difuzivity tenkých vrstev v rozsahu tloušťky od několika 10 μm až do nanometrového rozsahu.

V říjnu 2020 se společnost PicoTherm připojila ke skupině NETZSCH jako dceřiná společnost NETZSCH Japan. V kombinaci s našimi systémy LFA může nyní NETZSCH nabídnout řešení pro tenké vrstvy v rozsahu nanometrů až po objemové materiály v rozsahu mm.

Zkoušky tepelné vodivosti tenkého páskového kabelu

S výrazným pokrokem v konstrukci elektronických zařízení a související potřebou účinného tepelného managementu jsou přesná měření tepelné difuzivity / tepelné vodivosti v nanometrovém rozsahu důležitější než kdykoli předtím.

Japonský Národní institut pokročilé průmyslové vědy a technologie (AIST) reagoval na požadavky průmyslu již počátkem 90. let vývojem "termoreflexní metody ohřevu pulzním světlem". V roce 2008 byla založena společnost PicoTherm Corporation, která uvedla na trh nanosekundový termoreflexní přístroj "NanoTR" a pikosekundový termoreflexní přístroj "PicoTR", které umožňují absolutní měření tepelné difuzivity tenkých vrstev v rozsahu tloušťky od několika 10 μm až do nanometrového rozsahu.

Metoda

Termoreflexní metody v časové doméně - metoda laserového záblesku pro tenké vrstvy

Pomocí PicoTR lze na vzorek aplikovat laserové pulzy (čerpací laser) s šířkou pulzu 0,5 ps a časovou periodou 50 ns. Doba teplotní odezvy se zjišťuje také pomocí laseru vzorku.

PicoTR umožňuje uživateli snadno přepínat mezi režimy RT a FF.

PicoTR splňuje japonské průmyslové normy JIS R 1689 a JIS R 1690.

Schéma znázorňující uspořádání laserové spektroskopie s čerpacím a sondovým laserem, interakcí se vzorkem a detekčními komponentami.

Specifikace

PicoTR
Laserové čerpadloŠířka impulzu
Vlnová délka
Průměr paprsku
0.5 ps
1550 nm
45 μm
Vzorkový laserŠířka impulzu
Vlnová délka
Průměr paprsku
0.5 ps
775 nm
25 μm
Naměřené hodnotySoučinitelé tepelné difuzivity a prostupu tepla, tepelný odpor mezivrstev
Tloušťka vrstvy vzorku (RF metoda)Pryskyřice
Keramika
Kov
10 nm ... 100 nm
10 nm ... 300 nm
100 nm ... 900 nm
Tloušťka vrstvy vzorku (metoda FF)Silnější než 100 nm
SubstrátyMateriál
Velikost
Tloušťka
Neprůhledný/průhledný
10 ... 20 mm čtvercový
1 mm max.
Tepelná difuzivitaTepelná difuzivita (a s jednotkou mm2/s) je specifická vlastnost materiálu, která charakterizuje nestacionární vedení tepla. Tato hodnota popisuje, jak rychle materiál reaguje na změnu teploty.Tepelná difuzivita


Rozsah0.01 ... 1000 mm²/s
Přesnost± 6,2 % při době měření 40 min, pro CRM 5808A v režimu RF, tloušťka 400 nm
Reprodukovatelnost± 5%
SoftwareVýpočet tepelných vlastností, vícevrstvá analýza, databáze

Software

In-situ zobrazení a analýza 100 000 snímků

Nejmodernější měřicí/analytický software NanoTR/PicoTR má snadno ovladatelné uživatelské rozhraní, které umožňuje přesné stanovení tepelných vlastností tenkých vrstev. Pomocí softwaru lze nastavit zaostření laserového paprsku a získat obraz CCD.

NanoTR/PicoTR software běží pod operačním systémem Microsoft Windows.

Graf ukazuje, že za 1 μs času měření lze získat jednu měřicí křivku.

Softwarové rozhraní pro tepelnou analýzu zobrazující grafy nárůstu teploty a výsledky vypočtené tepelné difuzivity.

Získání výsledků během několika minut

NanoTR softwarové rozhraní zobrazující grafy měření s nastavením dat pro analýzu nárůstu teploty a časových intervalů.

Související zařízení

Poradenství a prodej

Máte další dotazy k přístroji nebo metodě a chcete si promluvit s obchodním zástupcem?

Servis a podpora

Máte již přístroj a potřebujete technickou podporu nebo náhradní díly?

Naše nejnovější články na blogu

    AI Overview
    An error occurred. Please try again.