Logam & Paduan
Tembaga Tipis dan Sangat Konduktif
Plot ini menunjukkan pengukuran pada sampel tembaga dengan ketebalan yang berbeda.
Hal ini dengan jelas membuktikan bahwa sistem LFA 467 HyperFlash®dapat berhasil mengukur sampel dengan difusivitas yang sangat tinggi. Selain itu, dengan mengurangi ketebalan sampel dari 3,0 mm menjadi 0,25 mm, pengukuran ini menegaskan bahwa sampel yang sangat tipis pun dapat diuji dengan akurasi yang sangat tinggi. Persiapan sampel dan penentuan ketebalan harus dipertimbangkan dengan cermat ketika mengukur sampel tipis. Inilah alasan mengapa ketidakpastian meningkat seiring dengan berkurangnya ketebalan sampel.
