Metaller & legeringar
Tunn och högledande koppar
Detta diagram visar mätningar på kopparprover med olika tjocklek.
Det visar tydligt att systemet LFA 467 HyperFlash®® framgångsrikt kan mäta prover med mycket höga diffusiviteter. Genom att minska provets tjocklek från 3,0 mm till 0,25 mm bekräftar dessa mätningar dessutom att även mycket tunna prover kan testas med mycket hög noggrannhet. Vid mätning av tunna prover måste man noga överväga provberedning och tjockleksbestämning. Detta är skälet till att osäkerheten ökar när provets tjocklek minskar.
