Kovy a slitiny

Tenká a vysoce vodivá měď

Tento graf ukazuje měření na vzorcích mědi o různých tloušťkách.

To jasně dokazuje, že systém LFA 467 HyperFlash^®® může úspěšně měřit vzorky s velmi vysokou difuzivitou. Navíc zmenšením tloušťky vzorku z 3,0 mm na 0,25 mm tato měření potvrzují, že i velmi tenké vzorky lze testovat s velmi vysokou přesností. Při měření tenkých vzorků je třeba pečlivě zvážit přípravu vzorku a stanovení jeho tloušťky. To je důvod, proč se nejistota zvyšuje s klesající tloušťkou vzorku.