金属・合金
薄くて導電性の高い銅
このプロットは、厚さの異なる銅試料の測定結果を示している。
システムLFA 467 HyperFlash®が非常に高い拡散率の試料を測定できることを明確に証明しています。さらに、試料の厚さを3.0 mmから0.25 mmにすることで、非常に薄い試料でも非常に高い精度で測定できることが確認されました。薄い試料を測定する場合は、試料の前処理と厚さの決定を慎重に考慮する必要があります。これが、試料の厚みが薄くなるにつれて不確かさが増大する理由です。

金属・合金
このプロットは、厚さの異なる銅試料の測定結果を示している。
システムLFA 467 HyperFlash®が非常に高い拡散率の試料を測定できることを明確に証明しています。さらに、試料の厚さを3.0 mmから0.25 mmにすることで、非常に薄い試料でも非常に高い精度で測定できることが確認されました。薄い試料を測定する場合は、試料の前処理と厚さの決定を慎重に考慮する必要があります。これが、試料の厚みが薄くなるにつれて不確かさが増大する理由です。
