Metalli e leghe

Rame sottile e altamente conduttivo

Questo grafico mostra le misure effettuate su campioni di rame di diverso spessore.

Ciò dimostra chiaramente che il sistema LFA 467 HyperFlash^®® può misurare con successo campioni con diffusività molto elevate. Inoltre, diminuendo lo spessore del campione da 3,0 mm a 0,25 mm, queste misure confermano che anche i campioni molto sottili possono essere testati con un'accuratezza molto elevata. La preparazione del campione e la determinazione dello spessore devono essere considerate con attenzione quando si misurano campioni sottili. Questo è il motivo per cui l'incertezza aumenta con la diminuzione dello spessore del campione.