NETZSCH för halvledar- och elektronikteam i Texas

Analysera halvledar- och elektronikmaterial med tillförlitliga resultat

Inom utvecklingen av halvledare, elektronik, tunnfilmer och funktionella material avgör valet av metod hur tillförlitligt man kan koppla termiskt beteende till processfönster, komponentprestanda och långsiktig tillförlitlighet.

NETZSCH Analyzing & Testing hjälper Texas-baserade team inom forskning och utveckling, materialvetenskap, processer, enheter, tillförlitlighet och kvalitet att identify lämpliga metoder för termisk, mekanisk och termofysikalisk karakterisering för sina material och mätmål.

Prata med en expert på karakterisering av halvledarmaterial

Diskutera ert materialsystem, utvecklingsmål och mätkrav med experterna på NETZSCH.

Kontakta experterna på NETZSCH

Karaktäriseringsmetoder för halvledare, elektronik och funktionella material

NETZSCH stöder tekniska team med metoder för att utvärdera termiska övergångar, stabilitet, mekaniskt beteende, dimensionella förändringar och värmeöverföring inom materialutveckling, processteknik och tillförlitlighetsarbete.

En affärsman med glasögon, klädd i en blå rutig skjorta, som blickar självsäkert in i kameran mot en neutral bakgrund.
Laserblinkanalys (LFA)

Mät värmediffusionskoefficienten som en funktion av temperaturen för att bestämma värmeledningsförmågan och utvärdera värmeöverföringsförmågan i fasta material, däribland halvledarmaterial, keramik och värmeledande gränssnittsmaterial.

En affärsman med glasögon, klädd i en blå rutig skjorta, som blickar självsäkert in i kameran mot en neutral bakgrund.
PicoTR / NanoTR

Mät värmediffusionsförmåga och värmeledningsförmåga i tunna skikt och mikrostrukturerade material, vilket underlättar utvärderingen av värmeöverföring i halvledarkomponenter, beläggningar och värmeledande gränssnittsmaterial.

En affärsman med glasögon, klädd i en blå rutig skjorta, som blickar självsäkert in i kameran mot en neutral bakgrund.
Differentialskanningskalorimetri (DSC)

Undersök termiska övergångar, smält- och kristallisationsbeteende, härdningsreaktioner samt materialegenskaper relaterade till värmekapacitet.

Är du osäker på vilken metod som passar just ditt material eller din enhet?

Prata med experterna på NETZSCH som stöder lagen i Texas.

Kontakta experterna på NETZSCH

Utvecklad med utgångspunkt i kraven inom halvledar- och elektronikbranschen

Valet av mätutrustning för halvledar- och elektronikmaterial måste möjliggöra reproducerbara data genom hela arbetsflödet inom utveckling, processteknik, tillförlitlighet och kvalitet. Den lämpliga konfigurationen beror på provets geometri, atmosfären, temperaturprogrammet, genomströmningen och den materialegenskap som ska utvärderas.

NETZSCH hjälper team att utvärdera metoder för:

Från materialutvärdering till förpackningens tillförlitlighet: Experterna på NETZSCH hjälper teamen i Texas att utforma en karakteriseringsstrategi som kopplar samman mätdata med beslut om processer, komponenter och kvalitet.

En teknisk partner för karakterisering av halvledare och elektronik

Rådgivning med fokus på tillämpning
Diskutera materialets uppbyggnad, provets form, målegenskaperna, omgivningsförhållandena och mätförhållandena innan du väljer en metod eller konfiguration.
Täckning av kompletterande metoder
Kombinera DSC, TGA/STA-EGA, DMA, TMA/dilatometri, laserblinkanalys, kalorimetri och reologi när tillämpningen kräver en överblick över flera egenskaper.
Stöd utöver valet av instrument
Anlita experter från NETZSCH inom metodutveckling, utbildning och praktisk tolkning av data för forskning, processer och kvalitetsarbete.

Diskutera din tillämpning inom halvledar- eller elektronikbranschen

Berätta för oss om ditt material, vilken typ av prov du har, dina frågor om utveckling eller tillförlitlighet samt vilka egenskaper du behöver mäta. En expert från NETZSCH kommer att kontakta ditt team i Texas för att diskutera lämpliga karakteriseringsmetoder och instrumentalternativ.

Fastställ rätt karakteriseringsmetod för dina material

Börja med din fråga om halvledare, elektronik, tunnfilm eller funktionella material. Experterna vid NETZSCH hjälper ditt team i Texas att utvärdera lämpliga metoder och mätutrustning.

Kontakta experterna på NETZSCH

Du kanske också är intresserad av

Upptäck NETZSCH:s produkter, tillämpningsinformation, tjänster, e-learning och evenemang som är relevanta för karakterisering av halvledare, elektronik och funktionella material.

AI Overview
An error occurred. Please try again.