NETZSCH за екипите в областта на полупроводниците и електрониката в Тексас

Определяйте характеристиките на полупроводниковите и електронните материали с увереност

При разработването на полупроводници, електроника, тънкослойни покрития и функционални материали изборът на метод определя доколко надеждно можете да свържете термичното поведение с технологичните прозорци, производителността на устройствата и дългосрочната надеждност.

NETZSCH „Анализиране и тестване“ помага на екипите за научноизследователска и развойна дейност, материалознание, технологични процеси, устройства, надеждност и качество в Тексас identify да подберат подходящи методи за термична, механична и термофизична характеристика на своите материали и измервателни цели.

Говорете с експерт по характеризиране на полупроводникови материали

Обсъдете вашата система от материали, целите за разработка и изискванията за измерване с експертите от „ NETZSCH “.

Свържете се с експертите от „ NETZSCH “

Методи за характеризиране на полупроводници, електронни компоненти и функционални материали

NETZSCH подпомага техническите екипи с методи за оценка на термичните преходи, стабилността, механичното поведение, промените в размерите и топлопреноса в рамките на разработването на материали, технологичното инженерство и дейностите, свързани с надеждността.

Професионалист с очила, облечен в синя карирана риза, който гледа уверено към камерата на неутрален фон.
Лазерно-светкавичен анализ (LFA)

Измерване на топлинната дифузия като функция на температурата с цел определяне на топлинната проводимост и оценка на характеристиките на топлопредаването в твърди тела, включително полупроводникови материали, керамика и материали за термичен интерфейс.

Професионалист с очила, облечен в синя карирана риза, който гледа уверено към камерата на неутрален фон.
PicoTR / NanoTR

Измерване на топлинната дифузия и топлинната проводимост в тънки слоеве и микроструктурни материали, което подпомага оценката на топлопреноса в полупроводникови устройства, покрития и термични интерфейсни материали.

Професионалист с очила, облечен в синя карирана риза, който гледа уверено към камерата на неутрален фон.
Диференциална сканираща калориметрия (DSC)

Изследване на термичните преходи, поведението при топене и кристализация, реакциите на втвърдяване и свойствата на материалите, свързани с топлинната способност.

Не сте сигурни кой метод е подходящ за вашия материал или устройство?

Свържете се с експертите от „ NETZSCH “, които подпомагат отборите от Тексас.

Свържете се с експертите от „ NETZSCH “

Създадена с оглед на изискванията за разработване на полупроводници и електроника

Решенията относно измервателната апаратура за полупроводникови и електронни материали трябва да осигуряват възпроизводимост на данните в рамките на работните процеси, свързани с разработката, технологичното проектиране, надеждността и качеството. Подходящата конфигурация зависи от геометрията на пробата, атмосферата, температурната програма, производителността и оценяваното свойство на материала.

NETZSCH помага на екипите да оценяват методи за:

  • Тънки слоеве, покрития и многослойни материални системи
  • Полупроводникови, електронни и фотоволтаични материали
  • Функционална керамика, прахове и наноматериали
  • Термични преходи, фазово поведение и специфична топлина
  • Окисляване, термична стабилност, разлагане и летливи вещества
  • Поглъщане на влага, десорбция и отстраняване на свързващото вещество
  • Синтероване, свиване и термично разширение
  • Термична дифузия, проводимост и надеждност на границата между опаковката и материала

От пресяването на материалите до надеждността на опаковките: експертите от „ NETZSCH “ помагат на екипите в Тексас да определят подход за характеризиране, който свързва измервателните данни с решенията относно процесите, устройствата и качеството.

Технически партньор за характеризиране на полупроводници и електронни компоненти

Консултация, насочена към конкретни приложения
Преди да изберете метод или конфигурация, обсъдете архитектурата на материала, формата на пробата, целевите свойства, условията на изследване и условията за измерване.
Обхват на допълнителните методи
Комбинирайте DSC, TGA/STA-EGA, DMA, TMA/дилатаметрия, лазерно-светкавичен анализ, калориметрия и реология, когато приложението изисква оценка на множество свойства.
Подкрепа, която надхвърля избора на инструмент
Обърнете се към експертите на „ NETZSCH “ за разработване на методи, обучение и практическа интерпретация на данни в областта на научните изследвания, производствените процеси и управлението на качеството.

Обсъдете вашето приложение в областта на полупроводниците или електрониката

Разкажете ни за вашия материал, вида на пробата, въпросите, свързани с разработката или надеждността, както и за свойствата, които трябва да измерите. Експерт от „ NETZSCH “ ще се свърже с вашия екип в Тексас, за да обсъди подходящи методи за характеризиране и варианти за измервателна апаратура.

Определете подходящия подход за характеризиране на вашите материали

Започнете с въпроса си, свързан с полупроводници, електроника, тънкослойни покрития или функционални материали. Експертите от „ NETZSCH “ ще помогнат на вашия екип в Тексас да прецени подходящите методи и апаратура.

Свържете се с експертите от „ NETZSCH “

Може да ви интересува още

Разгледайте продуктите на „ NETZSCH “, информация за приложенията, услугите, онлайн обучението и събитията, свързани с характеризирането на полупроводници, електроника и функционални материали.

AI Overview
An error occurred. Please try again.