NETZSCH para los equipos del sector de los semiconductores y la electrónica de Texas

Caracterice con total confianza los materiales semiconductores y electrónicos

En el ámbito del desarrollo de semiconductores, electrónica, películas finas y materiales funcionales, la selección del método determina el grado de fiabilidad con el que se puede relacionar el comportamiento térmico con las ventanas de proceso, el rendimiento de los dispositivos y la fiabilidad a largo plazo.

NETZSCH Analyzing & Testing ayuda a los equipos de I+D, ciencia de los materiales, procesos, dispositivos, fiabilidad y calidad de Texas a e identify ar métodos adecuados de caracterización térmica, mecánica y termofísica para sus materiales y objetivos de medición.

Hable con un experto en caracterización de materiales semiconductores

Comente su sistema de materiales, sus objetivos de desarrollo y sus requisitos de medición con los expertos de NETZSCH.

Póngase en contacto con los expertos de NETZSCH

Métodos de caracterización para semiconductores, electrónica y materiales funcionales

NETZSCH ofrece a los equipos técnicos métodos para evaluar las transiciones térmicas, la estabilidad, la respuesta mecánica, los cambios dimensionales y el transporte de calor en el ámbito del desarrollo de materiales, la ingeniería de procesos y los trabajos relacionados con la fiabilidad.

Hombre de aspecto profesional, con gafas y una camisa azul a cuadros, que mira con seguridad a la cámara sobre un fondo neutro.
Análisis por destello láser (LFA)

Mida la difusividad térmica en función de la temperatura para determinar la conductividad térmica y evaluar el rendimiento de la transferencia de calor en sólidos, incluidos los materiales semiconductores, las cerámicas y los materiales de interfaz térmica.

Hombre de aspecto profesional, con gafas y una camisa a cuadros azules, que mira con seguridad a la cámara sobre un fondo neutro.
PicoTR / NanoTR

Mide la difusividad térmica y la conductividad térmica en películas delgadas y materiales microestructurados, lo que permite evaluar el transporte de calor en dispositivos semiconductores, recubrimientos y materiales de interfaz térmica.

Hombre de aspecto profesional, con gafas y una camisa a cuadros azul, que mira con seguridad a la cámara sobre un fondo neutro.
Calorimetría diferencial de barrido (DSC)

Investigue las transiciones térmicas, el comportamiento de fusión y cristalización, las reacciones de curado y las propiedades de los materiales relacionadas con la capacidad calorífica.

¿No está seguro de qué método se adapta mejor a su material o a su dispositivo?

Póngase en contacto con los expertos de NETZSCH que prestan apoyo a los equipos de Texas.

Póngase en contacto con los expertos de NETZSCH

Diseñado en función de los requisitos de desarrollo de semiconductores y electrónica

Las decisiones relativas a la instrumentación para materiales semiconductores y electrónicos deben garantizar la reproducibilidad de los datos en todas las fases del desarrollo, la ingeniería de procesos, la fiabilidad y los flujos de trabajo de calidad. La configuración adecuada depende de la geometría de la muestra, la atmósfera, el programa de temperatura, el rendimiento y la propiedad del material que se esté evaluando.

NETZSCH Ayuda a los equipos a evaluar métodos para:

Desde la selección de materiales hasta la fiabilidad de los envases: los expertos de NETZSCH ayudan a los equipos de Texas a definir un enfoque de caracterización que relacione los datos de medición con las decisiones relativas a los procesos, los dispositivos y la calidad.

Un socio técnico para la caracterización de semiconductores y componentes electrónicos

Asesoramiento orientado a la aplicación
Analice la composición de los materiales, el tipo de muestra, las propiedades que se desean determinar, las condiciones ambientales y las condiciones de medición antes de seleccionar un método o una configuración.
Cobertura de métodos complementarios
Combine DSC, TGA/STA-EGA, DMA, TMA/dilatometría, análisis por destello láser, calorimetría y reología cuando la aplicación requiera un análisis de múltiples propiedades.
Asistencia más allá de la selección de instrumentos
Recurra a los expertos de NETZSCH en materia de desarrollo de métodos, formación e interpretación práctica de datos para entornos de investigación, procesos y calidad.

Comente su aplicación en el ámbito de los semiconductores o la electrónica

Explíquenos cuál es su material, el tipo de muestra, sus dudas sobre el desarrollo o la fiabilidad, y las propiedades que necesita medir. Un experto de NETZSCH se pondrá en contacto con su equipo de Texas para analizar los métodos de caracterización adecuados y las opciones de instrumentación.

Defina el enfoque de caracterización adecuado para sus materiales

Comience planteando su consulta sobre semiconductores, electrónica, películas finas o materiales funcionales. Los expertos de NETZSCH ayudarán a su equipo de Texas a evaluar los métodos y la instrumentación adecuados.

Póngase en contacto con los expertos de NETZSCH

Quizá también le interese

Descubra los productos, la información sobre aplicaciones, los servicios, los cursos de formación en línea y los eventos de NETZSCH relacionados con la caracterización de semiconductores, la electrónica y los materiales funcionales.

AI Overview
An error occurred. Please try again.