NETZSCH destiné aux équipes du secteur des semi-conducteurs et de l'électronique du Texas

Caractérisez en toute confiance les matériaux semi-conducteurs et électroniques

Dans le domaine du développement des semi-conducteurs, de l’électronique, des couches minces et des matériaux fonctionnels, le choix de la méthode détermine dans quelle mesure vous pouvez établir un lien fiable entre le comportement thermique, les fenêtres de processus, les performances des dispositifs et la fiabilité à long terme.

NETZSCH Le service « Analyse et essais » aide les équipes texanes de R&D, de science des matériaux, de procédés, de dispositifs, de fiabilité et de qualité à « identify r » des méthodes de caractérisation thermique, mécanique et thermophysique adaptées à leurs matériaux et à leurs objectifs de mesure.

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Discutez de votre système de matériaux, de vos objectifs de développement et de vos besoins en matière de mesures avec les experts d'NETZSCH.

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Méthodes de caractérisation des semi-conducteurs, des composants électroniques et des matériaux fonctionnels

NETZSCH apporte son soutien aux équipes techniques en leur proposant des méthodes d'évaluation des transitions thermiques, de la stabilité, du comportement mécanique, des variations dimensionnelles et du transfert de chaleur dans le cadre du développement des matériaux, de l'ingénierie des procédés et des travaux sur la fiabilité.

Un homme d'affaires portant des lunettes et une chemise à carreaux bleus, regardant l'objectif avec assurance sur un fond neutre.
Analyse par flash laser (LFA)

Mesurer la diffusivité thermique en fonction de la température afin de déterminer la conductivité thermique et d'évaluer les performances de transfert thermique dans les solides, notamment les matériaux semi-conducteurs, les céramiques et les matériaux d'interface thermique.

Un homme d'affaires portant des lunettes et une chemise à carreaux bleus, qui regarde l'objectif avec assurance sur un fond neutre.
PicoTR / NanoTR

Mesurer la diffusivité thermique et la conductivité thermique dans les films minces et les matériaux microstructurés, afin de faciliter l'évaluation du transport de chaleur dans les dispositifs à semi-conducteurs, les revêtements et les matériaux d'interface thermique.

Un homme d'affaires portant des lunettes et une chemise à carreaux bleus, regardant l'objectif avec assurance sur un fond neutre.
Calorimétrie à balayage différentiel (DSC)

Étudiez les transitions thermiques, les comportements de fusion et de cristallisation, les réactions de durcissement ainsi que les propriétés des matériaux liées à leur capacité thermique.

Vous ne savez pas quelle méthode convient le mieux à votre question concernant le support ou l'appareil ?

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Conçu pour répondre aux exigences en matière de développement dans les domaines des semi-conducteurs et de l'électronique

Les choix d'instrumentation pour les matériaux semi-conducteurs et électroniques doivent permettre d'obtenir des données reproductibles tout au long des processus de développement, d'ingénierie des procédés, de fiabilité et de qualité. La configuration appropriée dépend de la géométrie de l'échantillon, de l'atmosphère, du programme de température, du débit et de la propriété du matériau à évaluer.

NETZSCH Cela aide les équipes à évaluer des méthodes pour :

De la sélection des matériaux à la fiabilité des boîtiers : les experts d’ NETZSCH aident les équipes texanes à définir une approche de caractérisation qui relie les données de mesure aux décisions relatives aux procédés, aux dispositifs et à la qualité.

Un partenaire technique spécialisé dans la caractérisation des semi-conducteurs et des composants électroniques

Consultation axée sur les applications
Avant de choisir une méthode ou une configuration, examinez la composition des matériaux, la forme des échantillons, les propriétés recherchées, les conditions ambiantes et les conditions de mesure.
Couverture des méthodes complémentaires
Associez la DSC, la TGA/STA-EGA, la DMA, la TMA/dilatométrie, l'analyse par flash laser, la calorimétrie et la rhéologie lorsque l'application nécessite une analyse sous plusieurs angles des propriétés.
Un accompagnement qui va au-delà du simple choix de l'instrument
Faites appel aux experts d'NETZSCH pour le développement de méthodes, la formation et l'interprétation pratique des données dans les domaines de la recherche, des procédés et de la qualité.

Discutez de votre application dans le domaine des semi-conducteurs ou de l'électronique

Faites-nous part de vos questions concernant votre matériau, la forme de l'échantillon, le développement ou la fiabilité, ainsi que les propriétés que vous souhaitez mesurer. Un expert d'NETZSCH prendra contact avec votre équipe au Texas afin de discuter des méthodes de caractérisation adaptées et des options d'instrumentation disponibles.

Définissez la méthode d'analyse la mieux adaptée à vos matériaux

Commencez par nous soumettre votre question concernant les semi-conducteurs, l'électronique, les couches minces ou les matériaux fonctionnels. Les experts d'NETZSCH aideront votre équipe du Texas à évaluer les méthodes et les équipements adaptés.

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