23.02.2026 by Aileen Sammler
Permettre des avancées dans la recherche sur les transistors thermiques
À l'université d'Hokkaido, le professeur Hiromichi Ohta et son équipe sont à la pointe de la recherche sur les transistors thermiques électrochimiques à l'état solide. Grâce à l'analyseur NETZSCH PicoTR , ils peuvent mesurer avec précision les propriétés thermophysiques de films ultraminces, ce qui constitue une étape clé dans la réalisation des technologies de gestion thermique de la prochaine génération.
L'université d'Hokkaido repousse les limites de la mesure des couches minces avec NETZSCH PicoTR
La mesure des propriétés thermophysiques des films ultraminces est l'un des plus grands défis de la recherche moderne sur les matériaux. Surtout lorsque ces films constituent la base des transistors thermiques électrochimiques à l'état solide, une technologie clé pour la gestion thermique de la prochaine génération.
À l'université d'Hokkaido, le professeur Hiromichi Ohta et son équipe s'attaquent précisément à ce défi. Leur groupe de recherche a été le premier à développer des transistors thermiques électrochimiques à l'état solide, et la caractérisation précise des couches minces joue un rôle décisif dans leur travail.
L'importance des propriétés thermiques des couches minces
Pour les transistors thermiques, la conductivité et la diffusivité thermiques doivent être mesurées avec une grande précision, souvent dans des films de quelques nanomètres d'épaisseur. Les méthodes traditionnelles atteignent rapidement leurs limites, soit en raison de la complexité de la préparation des échantillons, soit en raison d'une résolution temporelle insuffisante. C'est là que le NETZSCH PicoTR entre en jeu.
Grâce à l'analyseur NETZSCH PicoTR , l'équipe du professeur Ohta peut observer des signaux de ThermoréflectanceLa thermoréflectance est une méthode permettant de déterminer la diffusivité et la conductivité thermiques de films minces d'une épaisseur de l'ordre du nanomètre.thermoréflectance jusqu'à 50 nanosecondes. C'estune plage qui révèle des informations que d'autres systèmes ne peuvent tout simplement pas capturer.
Comme l'explique le professeur Ohta, ce temps de retard prolongé :
- réduit l'incertitude dans l'ajustement des données
- permet une identification fiable du comportement du transport thermique
- permet des expériences de commutation répétées, essentielles pour la validation des transistors thermiques
Résultat : une compréhension plus rapide, des données reproductibles et une confiance lors de la publication, de la validation et de la mise à l'échelle de nouveaux concepts.
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