Analyse Thermique Simultanée

STA 449 F3 Jupiter®

Incroyable Flexibilité en Analyse Thermique

L'analyseur thermique simultané NETZSCH STA 449 F3  Jupiter® permet la mesure des variations de masse et des effets thermiques entre -150°C et 2400°C.

L’énorme flexibilité grâce aux différents capteurs, à la grande variété de creusets et à la large gamme de pesée permettent à ce système d’analyser tous les types de matériaux incluant les substances hétérogènes.

Portes échantillons facilement interchangeables permettant l’adaptation optimale du système aux divers domaines d’application (TG, TG-ATD et TG-DSC).

Différents fours, facilement interchangeables par l’utilisateur, couvrant la gamme complète de température. Grâce au design étanche au vide, les mesures sous atmosphères contrôlées (ex. inerte) sont possibles.

L’instrument est contrôlé par un tout nouveau système électronique digital intégré. L’analyse des données mesurées s’effectue sur un ordinateur standard sous Windows®.

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Spécifications Techniques

Gamme de température:
-150°C à 2400°C
Four tungstène
(25 … 2400°C)
Four hautes vitesses de chauffe
(RT à 1250°C)

Vitesse de chauffe et de refroidissement:
0.001°C/min à 50°C/min
(en fonction du four)

Gamme de pesée:
35000 mg

Résolution TG:
0,1 µg

Résolution DSC (en fonction du capteur):
par exemple < 1 µW pour le capteur DSC de type S et 0,5 µW pour le capteur DSC de type E

Atmosphères:
inerte, oxydante, réductrice, statique, dynamique, vide

Valves d’ouverture/fermeture pour 2 gaz de balayage et 1 gaz de protections

Construction étanche au vide
jusqu’à 10-4 mbar

Coupling:
FT-IR, MS via Capillary or SKIMMER coupling

This instrument is LabV®️-primed

LabV®️ takes the data from your analytical instrument: It automatically imports all measurement data into a central and secure database solution, the LabV®️ software. This allows you to visualize the data in LabV®️ and to make them searchable. Your data will now be accessible from anywhere. Moreover you have the possibility to generate reports.

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STA 449 F3  Jupiter® Simultaneous DSC-TGA sample carrier change

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Part 2 Sample Preparation Influencing Factors How to Setup an STA Measurement

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