
米国特許
NETZSCH は、知的財産、つまりイノベーションや創造性に対する私たちの新しいアイデアや投資を保護するためにあらゆる努力をしています。発明された新製品であれ、発見された旧製品の新しい用途であれ、世界中でより強力で効果的な知的財産の保護を促進するため、私たちは世界各国で特許を出願しています。以下は、当社が米国で出願した特許です:
材料分析のための方法と装置DSC用るつぼとセンサー配置 | US 10,088,441 |
熱分析装置STA-FT-IRカップリング | US 9,429,531 |
示差熱分析の実行方法:DTA信号の決定とTGAシステムの校正のために | US 9,310,259 |
熱分析の測定結果を評価する方法、およびその方法の使用、コンピュータユニット、コンピュータプログラム製品、およびその方法を実行するためのシステム | US 9,816,869 |
3次元拡散率 | US 9,939,396 |
試料の長さの変化を測定するための装置及び方法、並びに/又は試料の変形力を測定するための装置及び方法 | US 9,791,330 |
変調熱重量測定における分析のためのシステムおよび方法 | US 9,389,194 |
熱分析のための装置と方法DSC・TGA同時測定システム(STA) | US 9,939,329 |
ガス分析を含む熱分析装置及び熱分析方法GC-MSカップリング | US 9,689,818 |
低熱慣性走査断熱熱量計 | US 7,021,820 |
光パルスによる熱伝導率検出装置 | US 7,038,209 |
熱分析装置および熱分析方法 | US 8,899,827 |
熱分析用温度制御装置 | US 9,164,049 |