NETZSCH til hold inden for halvledere og avancerede materialer i Massachusetts

Karakterisering af halvledere, nanoelektronik og avancerede materialer for hold i Massachusetts

Uanset om du arbejder med udvikling af tynde film, halvlederpakninger, elektroniske materialer, nanomaterialer, keramik eller kompositter, er det afgørende at vælge den rette karakteriseringsmetode for at kunne træffe pålidelige beslutninger om udvikling, processer, pålidelighed og kvalitet.

NETZSCH Analyzing & Testing hjælper teams inden for forskning og udvikling, materialevidenskab, procesudvikling, enhedskonstruktion, pålidelighed og kvalitet med at evaluere løsninger til termisk analyse og termofysiske målinger i forbindelse med deres materialespørgsmål.

Tal med en specialist i karakterisering af halvledermaterialer

Drøft dit materialesystem, dine udviklingsmål og dine målekrav med vores team.

Kontakt NETZSCH Salg

Karakteriseringsmetoder til halvledere og avancerede materialer

NETZSCH støtter tekniske teams med metoder til analyse af termisk, mekanisk, dimensionel og termofysisk adfærd – lige fra materialevurdering og procesudvikling til pålidelighed og kvalitetskontrol.

En professionel mand med briller, iført en blå ternet skjorte, der ser selvsikkert ind i kameraet foran en neutral baggrund.
Laser-flash-analyse (LFA)

Måling af termisk diffusivitet som en funktion af temperaturen med henblik på at bestemme varmeledningsevnen og vurdere varmeoverførselsevnen i faste stoffer, herunder halvledermaterialer, keramiske materialer og termiske grænsefladematerialer.

En professionel mand med briller, iført en blå ternet skjorte, der ser selvsikkert ind i kameraet foran en neutral baggrund.
PicoTR / NanoTR

Måling af termisk diffusivitet og varmeledningsevne i tynde film og mikrostrukturerede materialer, hvilket understøtter vurderingen af varmetransport i halvlederkomponenter, belægninger og termiske grænsefladematerialer.

En professionel mand med briller, iført en blå ternet skjorte, der ser selvsikkert ind i kameraet foran en neutral baggrund.
Differentialscanningskalorimetri (DSC)

Undersøg termiske overgange, smelte- og krystalliseringsadfærd, hærdningsreaktioner samt materialegenskaber relateret til varmekapacitet.

En professionel mand med briller, iført en blå ternet skjorte, der ser selvsikkert ind i kameraet foran en neutral baggrund.
Termogravimetrisk analyse (TGA)

Mål masseændringer som en funktion af temperaturen eller tiden for at vurdere termisk stabilitet, fugt- og opløsningsmiddelindhold samt nedbrydningsadfærd i materialer til halvlederprocesser, hvilket understøtter risikovurdering af udgasning og kontrol af forurening.

Er du i tvivl om, hvilken metode der passer bedst til din anvendelse?

Kontakt vores team.

Kontakt NETZSCH Salg

Udviklet med udgangspunkt i kravene til halvledere og avancerede materialer

For teams inden for halvledere, nanoelektronik og avancerede materialer skal måleudstyret understøtte de indbyrdes forbundne krav til forskning og udvikling, procesudvikling, pålidelighed og kvalitet. Den rette løsning bør tilbyde fleksibilitet i metoderne, kontrollerede atmosfærer, repeterbar datakvalitet og en meningsfuld sammenhæng med termiske belastninger.

NETZSCH understøtter teams, der vurderer løsninger til:

Fra et specifikt materialeanliggende til en standardiseret karakteriseringsproces: Vi hjælper dig med at vurdere metoder, der imødekommer aktuelle udviklingsmål og fremtidige krav til pålidelighed eller kvalitet.

En teknisk partner inden for karakterisering af halvledere og avancerede materialer

Anvendelsesorienteret rådgivning
Ekspertise inden for komplementære metoder
Kombiner DSC, TGA/STA, analyse af frigjorte gasser, DMA, TMA, dilatometri, laserflash-analyse og kalorimetri i en sammenhængende karakteriseringsstrategi.
Support, der rækker ud over valg af instrument
Få vejledning i metodeudvikling, uddannelse og praktisk implementering af karakteriseringssystemer i arbejdsgange inden for udvikling, pålidelighed og kvalitet.

Tal med os om din anvendelse inden for halvledere eller avancerede materialer

Fortæl os om dit materiale, din enhed, din proces eller dit spørgsmål vedrørende pålidelighed, samt hvilken egenskab du har brug for at forstå. En repræsentant fra NETZSCH vil drøfte egnede karakteriseringsmetoder og instrumentmuligheder med dig.

Find den rigtige karakteriseringsmetode til dine materialer

Start med dit anvendelsesspørgsmål. NETZSCH hjælper dig med at vurdere egnede metoder og instrumenter til elektroniske materialer, emballage, tynde film, nanomaterialer, keramik og kompositter.

Kontakt NETZSCH Salg

Det her kunne også interessere dig

Udforsk NETZSCH: Analyse- og testprodukter, indsigt i anvendelsesmuligheder, servicetilbud og e-læringsressourcer inden for termisk analyse og materialekarakterisering.

AI Overview
An error occurred. Please try again.