NETZSCH destiné aux équipes du Massachusetts spécialisées dans les semi-conducteurs et les matériaux de pointe

Caractérisation des semi-conducteurs, de la nanoélectronique et des matériaux avancés pour les équipes du Massachusetts

Que vous développiez des films minces, des boîtiers de semi-conducteurs, des matériaux électroniques, des nanomatériaux, des céramiques ou des composites, le choix d’une méthode de caractérisation adaptée est essentiel pour prendre des décisions éclairées en matière de développement, de procédés, de fiabilité et de qualité.

NETZSCH La rubrique « Analyse et essais » aide les équipes de R&D, de science des matériaux, de développement de procédés, d’ingénierie des dispositifs, de fiabilité et de qualité à évaluer les solutions d’analyse thermique et de mesures thermophysiques adaptées à leurs problématiques liées aux matériaux.

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Discutez avec notre équipe de votre système de matériaux, de vos objectifs de développement et de vos exigences en matière de mesures.

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Méthodes de caractérisation des semi-conducteurs et des matériaux de pointe

NETZSCH apporte son soutien aux équipes techniques en leur proposant des méthodes d'analyse du comportement thermique, mécanique, dimensionnel et thermophysique, depuis la sélection des matériaux et le développement des procédés jusqu'à la fiabilité et au contrôle qualité.

Calorimétrie différentielle à balayage (DSC)

Déterminer les transitions thermiques, les réactions et la capacité thermique.

La DSC permet d'étudier les transitions de phase, la fusion, la cristallisation, les réactions de durcissement, le comportement à l'oxydation et la chaleur spécifique des matériaux électroniques et des revêtements.

Convient pour : les diélectriques, les matériaux d'encapsulation, les films minces, les matériaux de soudure, les céramiques et les composites.

Vous ne savez pas quelle méthode convient à votre application ?

N'hésitez pas à contacter notre équipe.

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Conçu pour répondre aux exigences en matière de semi-conducteurs et de matériaux de pointe

Pour les équipes spécialisées dans les semi-conducteurs, la nanoélectronique et les matériaux de pointe, les équipements doivent répondre aux exigences interconnectées en matière de R&D, de développement de procédés, de fiabilité et de qualité. La solution adéquate doit offrir une flexibilité méthodologique, des atmosphères contrôlées, une qualité de données reproductible et une corrélation significative avec les charges thermiques.

NETZSCH Accompagne les équipes dans l’évaluation de solutions pour :

D'une question spécifique relative aux matériaux à un processus de caractérisation reproductible : nous vous aidons à évaluer des méthodes qui répondent à vos objectifs de développement actuels ainsi qu'à vos futurs besoins en matière de fiabilité ou de qualité.

Un partenaire technique spécialisé dans la caractérisation des semi-conducteurs et des matériaux de pointe

Consultation axée sur les applications
Avant de choisir une configuration d'instrument, veuillez discuter de votre empilement de matériaux, de la charge thermique, des propriétés cibles, des conditions de mesure et des exigences en matière de données.
Expertise en méthodes complémentaires
Intégrez la DSC, la TGA/STA, l'analyse des gaz dégagés, la DMA, la TMA, la dilatométrie, l'analyse par flash laser et la calorimétrie au sein d'une stratégie de caractérisation cohérente.
Un accompagnement qui va au-delà du simple choix de l'instrument
Bénéficiez de conseils pour le développement de méthodes, la formation et la mise en œuvre pratique de systèmes de caractérisation dans les processus de développement, de fiabilité et de qualité.

Discutez de votre application dans le domaine des semi-conducteurs ou des matériaux de pointe

Faites-nous part de votre question concernant un matériau, un dispositif, un procédé ou la fiabilité, ainsi que de la propriété que vous souhaitez comprendre. Un représentant d'NETZSCH discutera avec vous des méthodes de caractérisation et des options d'instruments adaptées.

Trouvez la méthode de caractérisation adaptée à vos matériaux

Commencez par définir votre besoin. Le site NETZSCH vous aidera à évaluer les méthodes et les instruments adaptés aux matériaux électroniques, aux conditionnements, aux films minces, aux nanomatériaux, aux céramiques et aux composites.

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Découvrez les ressources d'NETZSCH. consacrées à la caractérisation des matériaux électroniques

Découvrez comment la DSC, la TGA/STA, l'analyse des gaz émis, la DMA, la TMA, la dilatométrie, l'analyse par flash laser et la calorimétrie permettent de caractériser les transitions thermiques, la Réaction de décompositionUne réaction de décomposition est une réaction thermiquement induite d'un composé chimique formant des produits solides et/ou gazeux. décomposition, le Durcissement (réactions de réticulation)Le terme "crosslinking" signifie littéralement "mise en réseau". Dans le contexte chimique, il est utilisé pour les réactions dans lesquelles les molécules sont liées entre elles par l'introduction de liaisons covalentes et la formation de réseaux tridimensionnels.durcissement, la dilatation thermique et le transport de chaleur.

Établissez un lien entre les propriétés mesurables des matériaux et les enjeux concrets liés au développement de dispositifs, à l’optimisation des procédés, à l’évaluation de la fiabilité et au contrôle qualité.

NETZSCH couverture des ressources techniques pour la caractérisation des matériaux.

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