NETZSCH destiné aux équipes du Massachusetts spécialisées dans les semi-conducteurs et les matériaux de pointe

Caractérisation des semi-conducteurs, de la nanoélectronique et des matériaux avancés pour les équipes du Massachusetts

Que vous développiez des films minces, des boîtiers de semi-conducteurs, des matériaux électroniques, des nanomatériaux, des céramiques ou des composites, le choix d’une méthode de caractérisation adaptée est essentiel pour prendre des décisions éclairées en matière de développement, de procédés, de fiabilité et de qualité.

NETZSCH La rubrique « Analyse et essais » aide les équipes de R&D, de science des matériaux, de développement de procédés, d’ingénierie des dispositifs, de fiabilité et de qualité à évaluer les solutions d’analyse thermique et de mesures thermophysiques adaptées à leurs problématiques liées aux matériaux.

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Discutez avec notre équipe de votre système de matériaux, de vos objectifs de développement et de vos exigences en matière de mesures.

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Méthodes de caractérisation des semi-conducteurs et des matériaux de pointe

NETZSCH apporte son soutien aux équipes techniques en leur proposant des méthodes d'analyse du comportement thermique, mécanique, dimensionnel et thermophysique, depuis la sélection des matériaux et le développement des procédés jusqu'à la fiabilité et au contrôle qualité.

Un homme d'affaires portant des lunettes et une chemise à carreaux bleus, regardant l'objectif avec assurance sur un fond neutre.
Analyse par flash laser (LFA)

Mesurer la diffusivité thermique en fonction de la température afin de déterminer la conductivité thermique et d'évaluer les performances de transfert thermique dans les solides, notamment les matériaux semi-conducteurs, les céramiques et les matériaux d'interface thermique.

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PicoTR / NanoTR

Mesurer la diffusivité thermique et la conductivité thermique dans les films minces et les matériaux microstructurés, afin de faciliter l'évaluation du transport de chaleur dans les dispositifs à semi-conducteurs, les revêtements et les matériaux d'interface thermique.

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Calorimétrie à balayage différentiel (DSC)

Étudiez les transitions thermiques, le comportement à la fusion et à la cristallisation, les réactions de durcissement ainsi que les propriétés des matériaux liées à leur capacité thermique.

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Analyse thermogravimétrique (ATG)

Mesurer les variations de masse en fonction de la température ou du temps afin d'évaluer la stabilité thermique, la teneur en humidité et en solvants, ainsi que le comportement à la décomposition des matériaux utilisés dans les procédés de fabrication des semi-conducteurs, ce qui permet d'étayer l'évaluation des risques liés au dégazage et la maîtrise de la contamination.

Vous ne savez pas quelle méthode convient le mieux à votre application ?

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Conçu pour répondre aux exigences en matière de semi-conducteurs et de matériaux de pointe

Pour les équipes spécialisées dans les semi-conducteurs, la nanoélectronique et les matériaux de pointe, les équipements doivent répondre aux exigences interconnectées en matière de R&D, de développement de procédés, de fiabilité et de qualité. La solution adéquate doit offrir une flexibilité méthodologique, des atmosphères contrôlées, une qualité de données reproductible et une corrélation significative avec les charges thermiques.

NETZSCH Accompagne les équipes dans l’évaluation de solutions pour :

D'une question spécifique relative aux matériaux à un processus de caractérisation reproductible : nous vous aidons à évaluer des méthodes qui répondent à vos objectifs de développement actuels ainsi qu'à vos futurs besoins en matière de fiabilité ou de qualité.

Un partenaire technique spécialisé dans la caractérisation des semi-conducteurs et des matériaux de pointe

Consultation axée sur les applications
Avant de choisir une configuration d'instrument, veuillez discuter de votre empilement de matériaux, de la charge thermique, des propriétés cibles, des conditions de mesure et des exigences en matière de données.
Expertise en méthodes complémentaires
Intégrez la DSC, la TGA/STA, l'analyse des gaz dégagés, la DMA, la TMA, la dilatométrie, l'analyse par flash laser et la calorimétrie au sein d'une stratégie de caractérisation cohérente.
Un accompagnement qui va au-delà du simple choix de l'instrument
Bénéficiez de conseils pour le développement de méthodes, la formation et la mise en œuvre pratique de systèmes de caractérisation dans les processus de développement, de fiabilité et de qualité.

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Faites-nous part de votre question concernant un matériau, un dispositif, un procédé ou la fiabilité, ainsi que de la propriété que vous souhaitez comprendre. Un représentant d'NETZSCH discutera avec vous des méthodes de caractérisation et des options d'instruments adaptées.

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Commencez par définir votre besoin. Le site NETZSCH vous aidera à évaluer les méthodes et les instruments adaptés aux matériaux électroniques, aux conditionnements, aux films minces, aux nanomatériaux, aux céramiques et aux composites.

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