NETZSCH dla zespołów ds. półprzewodników i materiałów zaawansowanych w stanie Massachusetts

Charakterystyka półprzewodników, nanoelektroniki i materiałów zaawansowanych dla zespołów z Massachusetts

Niezależnie od tego, czy zajmują się Państwo opracowywaniem cienkich warstw, opakowań półprzewodników, materiałów elektronicznych, nanomateriałów, ceramiki czy kompozytów, dobór odpowiedniej metody charakteryzacji ma zasadnicze znaczenie dla podejmowania rzetelnych decyzji dotyczących rozwoju, procesów, niezawodności i jakości.

NETZSCH Sekcja „Analiza i testowanie” pomaga zespołom zajmującym się badaniami i rozwojem, materiałoznawstwem, opracowywaniem procesów, inżynierią urządzeń, niezawodnością oraz jakością w ocenie rozwiązań z zakresu analizy termicznej i pomiarów termofizycznych pod kątem zagadnień związanych z materiałami.

Porozmawiaj z ekspertem ds. charakteryzacji materiałów półprzewodnikowych

Prosimy o omówienie z naszym zespołem Państwa systemu materiałowego, celów rozwojowych oraz wymagań dotyczących pomiarów.

Skontaktuj się z działem sprzedaży NETZSCH

Metody charakteryzacji materiałów półprzewodnikowych i zaawansowanych

NETZSCH wspiera zespoły techniczne, dostarczając metody analizy właściwości termicznych, mechanicznych, wymiarowych i termofizycznych – od selekcji materiałów i opracowywania procesów po zapewnienie niezawodności i kontrolę jakości.

Mężczyzna w wieku biznesowym w okularach, ubrany w niebieską koszulę w kratę, spoglądający pewnie w obiektyw na neutralnym tle.
Analiza impulsów laserowych (LFA)

Proszę zmierzyć dyfuzyjność cieplną w funkcji temperatury w celu określenia przewodności cieplnej oraz oceny właściwości przenoszenia ciepła w ciałach stałych, w tym w materiałach półprzewodnikowych, ceramice i materiałach termoprzewodzących.

Mężczyzna w wieku biznesowym w okularach, ubrany w niebieską koszulę w kratę, spoglądający pewnie w obiektyw na neutralnym tle.
PicoTR / NanoTR

Pomiar dyfuzyjności cieplnej i przewodności cieplnej w cienkich warstwach oraz materiałach o mikrostrukturze, co stanowi wsparcie dla oceny transportu ciepła w urządzeniach półprzewodnikowych, powłokach i materiałach termoprzewodzących.

Mężczyzna w wieku biznesowym w okularach, ubrany w niebieską koszulę w kratę, spoglądający pewnie w obiektyw na neutralnym tle.
Kalorymetria różnicowa (DSC)

Zbadajcie przemiany termiczne, zachowanie podczas topnienia i krystalizacji, reakcje utwardzania oraz właściwości materiałów związane z pojemnością cieplną.

Mężczyzna w wieku biznesowym w okularach, ubrany w niebieską koszulę w kratę, spoglądający pewnie w obiektyw na neutralnym tle.
Analiza termograwimetryczna (TGA)

Należy mierzyć zmiany masy w funkcji temperatury lub czasu w celu oceny stabilności termicznej, zawartości wilgoci i rozpuszczalników oraz przebiegu rozkładu w materiałach wykorzystywanych w procesach półprzewodnikowych, co stanowi wsparcie dla oceny ryzyka odgazowywania oraz kontroli zanieczyszczeń.

Nie są Państwo pewni, która metoda najlepiej sprawdzi się w Państwa przypadku?

Skontaktuj się z naszym zespołem.

Skontaktuj się z działem sprzedaży NETZSCH

Opracowany z uwzględnieniem wymagań dotyczących półprzewodników i materiałów zaawansowanych

W przypadku zespołów zajmujących się półprzewodnikami, nanoelektroniką i materiałami zaawansowanymi oprzyrządowanie musi spełniać wzajemnie powiązane wymagania w zakresie badań i rozwoju, opracowywania procesów, niezawodności oraz jakości. Odpowiednie rozwiązanie powinno zapewniać elastyczność metod, kontrolowane warunki atmosferyczne, powtarzalną jakość danych oraz istotną korelację z obciążeniami termicznymi.

NETZSCH wspiera zespoły oceniające rozwiązania w zakresie:

Od konkretnego zagadnienia materiałowego po powtarzalny proces charakteryzacji: pomagamy Państwu w ocenie metod, które odpowiadają obecnym celom rozwojowym oraz przyszłym wymaganiom w zakresie niezawodności i jakości.

Partner techniczny w zakresie charakteryzacji półprzewodników i materiałów zaawansowanych

Konsultacje ukierunkowane na konkretne zastosowania
Przed wyborem konfiguracji przyrządu prosimy o omówienie składu materiałowego, obciążenia termicznego, docelowych właściwości, warunków pomiarowych oraz wymagań dotyczących danych.
Dodatkowa wiedza specjalistyczna w zakresie metod
Proszę połączyć metody DSC, TGA/STA, analizę gazów wydzielających się, DMA, TMA, dilatometrię, analizę metodą błysku laserowego oraz kalorymetrię w spójną strategię charakteryzacji.
Wsparcie wykraczające poza wybór instrumentu
Uzyskajcie Państwo wskazówki dotyczące opracowywania metod, szkoleń oraz praktycznego wdrażania systemów charakteryzacji w ramach procesów rozwoju, zapewnienia niezawodności i kontroli jakości.

Omówcie Państwo swoje zastosowania w dziedzinie półprzewodników lub materiałów zaawansowanych

Prosimy o przedstawienie nam Państwa pytania dotyczącego materiału, urządzenia, procesu lub niezawodności oraz właściwości, którą chcą Państwo zbadać. Przedstawiciel firmy NETZSCH omówi z Państwem odpowiednie metody charakteryzacji oraz dostępne opcje oprzyrządowania.

Znajdź odpowiednią metodę charakteryzacji dla Państwa materiałów

Proszę zacząć od opisu zastosowania. Publikacja „ NETZSCH ” pomoże Państwu w doborze odpowiednich metod i aparatury do badań materiałów elektronicznych, opakowań, cienkich warstw, nanomateriałów, ceramiki oraz kompozytów.

Skontaktuj się z działem sprzedaży NETZSCH

Może Pana/Panią również zainteresować

Zapraszamy do zapoznania się z witryną NETZSCH, na której znajdą Państwo informacje dotyczące analizy i testowania produktów, wgląd w zastosowania, ofertę usług oraz materiały szkoleniowe online dotyczące analizy termicznej i charakterystyki materiałów.

AI Overview
An error occurred. Please try again.