NETZSCH voor de teams op het gebied van halfgeleiders en geavanceerde materialen in Massachusetts

Karakterisering van halfgeleiders, nano-elektronica en geavanceerde materialen voor teams uit Massachusetts

Of u nu dunne films, halfgeleiderverpakkingen, elektronische materialen, nanomaterialen, keramiek of composietmaterialen ontwikkelt: de keuze van de juiste karakteriseringsmethode is van essentieel belang voor betrouwbare beslissingen op het gebied van ontwikkeling, procesvoering, betrouwbaarheid en kwaliteit.

NETZSCH Analyzing & Testing ondersteunt teams op het gebied van R&D, materiaalkunde, procesontwikkeling, apparaatengineering, betrouwbaarheid en kwaliteit bij het evalueren van oplossingen voor thermische analyse en thermofysische metingen voor hun materiaalgerelateerde vraagstukken.

Neem contact op met een specialist op het gebied van karakterisering van halfgeleidermaterialen

Bespreek uw materiaalsysteem, ontwikkelingsdoelstelling en meetvereisten met ons team.

Neem contact op met de verkoopafdeling van NETZSCH

Karakteriseringsmethoden voor halfgeleiders en geavanceerde materialen

NETZSCH ondersteunt technische teams met methoden voor het thermische, mechanische, dimensionale en thermofysische gedrag – van materiaalselectie en procesontwikkeling tot betrouwbaarheid en kwaliteitscontrole.

Een zakelijke man met een bril, gekleed in een blauw geruit overhemd, die zelfverzekerd in de camera kijkt tegen een neutrale achtergrond.
Laserflitsanalyse (LFA)

Meet de thermische diffusiviteit als functie van de temperatuur om de thermische geleidbaarheid te bepalen en de warmteoverdrachtsprestaties in vaste stoffen te evalueren, waaronder halfgeleidermaterialen, keramiek en thermische interfacematerialen.

Een zakelijke man met een bril, gekleed in een blauw geruit overhemd, die zelfverzekerd in de camera kijkt tegen een neutrale achtergrond.
PicoTR / NanoTR

Het meten van de thermische diffusiviteit en de thermische geleidbaarheid in dunne films en microgestructureerde materialen, ter ondersteuning van de evaluatie van warmtetransport in halfgeleidercomponenten, coatings en thermische interfacematerialen.

Een zakelijke man met een bril, gekleed in een blauw geruit overhemd, die zelfverzekerd in de camera kijkt tegen een neutrale achtergrond.
Differentiële scanningcalorimetrie (DSC)

Onderzoek thermische overgangen, smelt- en kristallisatiegedrag, uithardingsreacties en materiaalkenmerken die verband houden met de warmtecapaciteit.

Een zakelijke man met een bril, gekleed in een blauw geruit overhemd, die zelfverzekerd in de camera kijkt tegen een neutrale achtergrond.
Thermogravimetrische analyse (TGA)

Meet massaveranderingen als functie van de temperatuur of de tijd om de thermische stabiliteit, het vocht- en oplosmiddelgehalte en het afbraakgedrag van materialen voor halfgeleiderprocessen te beoordelen, ter ondersteuning van de risicobeoordeling van uitgassing en de beheersing van verontreiniging.

Weet u niet zeker welke methode het meest geschikt is voor uw toepassing?

Neem contact op met ons team.

Neem contact op met de verkoopafdeling van NETZSCH

Ontworpen met het oog op de eisen op het gebied van halfgeleiders en geavanceerde materialen

Voor teams die zich bezighouden met halfgeleiders, nano-elektronica en geavanceerde materialen moet de meetapparatuur voldoen aan de onderling samenhangende eisen op het gebied van onderzoek en ontwikkeling, procesontwikkeling, betrouwbaarheid en kwaliteit. De juiste oplossing dient methodologische flexibiliteit, gecontroleerde atmosferen, herhaalbare gegevenskwaliteit en een zinvolle correlatie met thermische belastingen te bieden.

NETZSCH ondersteunt teams bij het evalueren van oplossingen voor:

Van een gerichte materiaalkwestie tot een herhaalbare karakteriseringsworkflow: wij helpen u bij het evalueren van methoden die aansluiten bij uw huidige ontwikkelingsdoelstellingen en toekomstige eisen op het gebied van betrouwbaarheid of kwaliteit.

Een technische partner voor het karakteriseren van halfgeleiders en geavanceerde materialen

Toepassingsgericht advies
Bespreek uw materiaalstapel, thermische belasting, beoogde eigenschap, meetomstandigheden en gegevensvereisten alvorens een instrumentconfiguratie te kiezen.
Aanvullende methodologische expertise
Combineer DSC, TGA/STA, analyse van vrijgekomen gassen, DMA, TMA, dilatometrie, laserflitsanalyse en calorimetrie tot een samenhangende karakteriseringsstrategie.
Ondersteuning die verder gaat dan alleen de keuze van het instrument
Ontvang begeleiding bij de ontwikkeling van methoden, opleidingen en de praktische implementatie van karakteriseringssystemen binnen ontwikkelings-, betrouwbaarheids- en kwaliteitsprocessen.

Bespreek uw toepassing op het gebied van halfgeleiders of geavanceerde materialen

Vertel ons over uw vraag met betrekking tot materiaal, apparatuur, proces of betrouwbaarheid en over de eigenschap die u wilt begrijpen. Een vertegenwoordiger van NETZSCH zal met u de geschikte karakteriseringsmethoden en instrumentopties bespreken.

Vind de juiste karakteriseringsmethode voor uw materialen

Begin met uw toepassingsvraag. NETZSCH helpt u bij het beoordelen van geschikte methoden en instrumenten voor elektronische materialen, verpakkingen, dunne films, nanomaterialen, keramiek en composietmaterialen.

Neem contact op met de verkoopafdeling van NETZSCH

Misschien bent u ook geïnteresseerd in

Ontdek NETZSCH: producten voor analyse en testen, inzichten in toepassingen, dienstenaanbod en e-learningmaterialen op het gebied van thermische analyse en materiaalkarakterisering.

AI Overview
An error occurred. Please try again.