15.01.2024 by Fabia Beckstein, Aileen Sammler
レーザーフラッシュ分析による2層および3層測定の可能性評価
レーザー/ライトフラッシュ分析（LFA）は、材料の熱拡散率と熱伝導率を測定するために広く使用されている方法です。薄い円盤状の試料の前面を短いレーザーまたは光パルスで加熱します。赤外線検出器を用いて、試料裏面の温度上昇の時間的経過を測定します。この曲線から熱拡散率を求めることができる。LFA法は、均質で等方性の試料に特に有効です。[1]
LFAを2層または3層システムに適用する際の課題は、これらの多層構造における熱伝達の複雑さである。正確な測定には、正確な試料調製が不可欠です。さらに、測定データの評価には、2層および3層測定用の特別なモデルを備えたソフトウェアと、測定信号の解釈に関する深い理解が必要です。 NETZSCH Analyzing & Testingでは、その方法をご紹介しています。
レーザーフラッシュ分析による2層および3層測定の実現可能性についての最新ホワイトペーパーをお読みいただき、以下の質問にお答えください：
- 2-/3-レイヤー測定では、どのパラメータが測定可能か？
- どの層のどの特性を知る必要があるのか？
- 例えば厚さなど、レイヤーの要件は何か？
- 測定結果と信号の解釈は？
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