Stanovení tepelné roztažnosti: NETZSCH Dilatometry je mohou minimalizovat

Zdroje chyb při měření a jejich minimalizace

Při měření dilatometrem se však mohou vyskytnout různé zdroje chyb, které mohou vést k nepřesným výsledkům.

Zde představíme pět běžných zdrojů chyb a vysvětlíme, proč je dilatometry (DIL) od společnosti NETZSCH Analyzing & Testing pomáhají minimalizovat.

1. Příprava vzorku: NETZSCH nabízí širokou škálu příslušenství pro své dilatometry, které umožňuje dobře připravit a měřit vzorky z různých materiálů i různých velikostí a tvarů: Nabízíme například brusky na vzorky pro výrobu rovinných vzorků, speciální preparační sadu včetně držáku na fólie a speciální nádoby na vzorky prášků a vosků, které optimalizují přípravu vzorků.
   
   Další informace naleznete v našem rozsáhlém katalogu příslušenství.
2. Umístění vzorku: Nesprávné umístění vzorku může vést k chybám měření. Dilatometry od společnosti NETZSCH mají tzv MultiTouch funkci, která vzorek zcela automaticky "natřásá" do optimální polohy, a tím jej správně vycentruje a vyrovná. Přitom se automaticky určí počáteční délka vzorku při předem definované přítlačné síle.
3. Vnější teplotní vlivy: Kolísání teploty v místnosti může ovlivnit výsledek měření, pokud je měřicí systém nedostatečně izolován. Měřicí systémy našich dilatometrů jsou vybaveny vynikající izolací a v případě Select a Supreme verzi pracují také s elektronickou regulací teploty, která tyto vlivy minimalizuje.
4. Nečistoty: Nečistoty mohou rovněž zkreslit výsledky. Robustní držáky a podpěry vzorků dilatometrů od společnosti NETZSCH Analyzing & Testing lze před měřením snadno důkladně vyčistit nebo v případě potřeby vyměnit.
5. Technické chyby: Chyby v měřicím zařízení nebo softwaru mohou vést k nesprávným výsledkům. NETZSCH dilatometry jsou vybaveny inteligentními měřicími systémy, například na základě interakce optoelektronického měřicího senzoru a působení síly, kterou lze přesně řídit pomocí aktuátoru. Díky tomu je možné aplikovat konstantní sílu bez ohledu na roztažnost nebo smrštění vzorku v rozmezí 10 mN až 3N: NanoEye měřicí systém nabízí vysoké rozlišení až 0,1 nm v celém měřicím rozsahu až 50 mm, a to bezúdržbově a s dokonalou linearitou.
   Pomocí integrovaného měřicího systému je možné měřit až do velikosti 0,1 nm Proteus^® vyhodnocovacího softwaru dilatometru lze výsledky stanovit spolehlivě, rychle a snadno.