Lämpölaajenemisen määrittäminen: NETZSCH Dilatometrit voivat minimoida ne

Virhelähteet mittauksen aikana ja niiden minimointi

Dilatometrimittauksia suoritettaessa voi kuitenkin esiintyä erilaisia virhelähteitä, jotka voivat johtaa epätarkkoihin tuloksiin.

Esittelemme tässä viisi yleistä virhelähdettä ja selitämme, miksi NETZSCH Analyzing & Testingin dilatometrit (DIL) auttavat minimoimaan ne.

1. Näytteen valmistelu: Näytteiden riittämätön valmistelu voi johtaa virheellisiin tuloksiin. NETZSCH tarjoaa laajan valikoiman lisävarusteita dilatometreihinsa, joiden avulla eri materiaaleja sekä erikokoisia ja -muotoisia näytteitä voidaan valmistella ja mitata hyvin: Tarjoamme esimerkiksi näytteiden hiontalaitteita tasoparalleelisten näytteiden valmistamiseksi, erityisen valmistussarjan, johon kuuluu pidike kalvoille, sekä erityisiä näyteastioita jauheille ja vahoille näytteiden valmistuksen optimoimiseksi.
   
   Lisätietoja on laajassa lisävarusteluettelossamme.
2. Näytteen asemointi: Näytteen virheellinen sijoittelu voi johtaa mittausvirheisiin. NETZSCH dilatometreissä on MultiTouch toiminto, joka "täristää" näytteen optimaaliseen asentoon täysin automaattisesti ja siten keskittää ja kohdistaa sen oikein. Samalla näytteen alkupituus määritetään automaattisesti ennalta määritetyllä kosketusvoimalla.
3. Ulkoiset lämpötilavaikutukset: Huonelämpötilan vaihtelut voivat vaikuttaa mittaustulokseen, jos mittausjärjestelmä on puutteellisesti eristetty. Laajennusmittareidemme mittausjärjestelmät on varustettu erinomaisella eristyksellä ja, kun Select ja Supreme versiossa on myös elektroninen lämpötilansäätö näiden vaikutusten minimoimiseksi.
4. Epäpuhtaudet: Myös epäpuhtaudet voivat vääristää tuloksia. NETZSCH Analyzing & Testingin dilatometrien vankat näytteenpitimet ja kannattimet voidaan helposti puhdistaa perusteellisesti ennen mittausta tai tarvittaessa vaihtaa.
5. Tekniset virheet: Mittauslaitteessa tai ohjelmistossa olevat virheet voivat johtaa virheellisiin tuloksiin. NETZSCH -laimennusmittareissa on älykkäät mittausjärjestelmät, jotka perustuvat esimerkiksi optoelektronisen mittausanturin ja toimilaitteen avulla tarkasti säädettävän voiman käyttöön. Tämä mahdollistaa vakiovoiman käytön riippumatta näytteen laajenemisesta tai kutistumisesta 10 mN:n ja 3 N:n välillä: The NanoEye mittausjärjestelmä tarjoaa suuren, jopa 0,1 nm:n resoluution koko 50 mm:n mittausalueella, ja se toimii huoltovapaasti täydellisen lineaarisuuden ansiosta.
   Integroidun Proteus^® dilatometrin arviointiohjelmiston avulla tulokset voidaan määrittää luotettavasti, nopeasti ja helposti.