15.06.2023 by Aileen Sammler
A hőtágulás meghatározása: NETZSCH Dilatométerek minimalizálhatják azokat
A dilatometria fontos módszer az anyagok hosszának vagy térfogatának a hőmérséklet vagy más külső hatások hatására bekövetkező változásának mérésére. Ez a választott módszer a kerámiák, üvegek, fémek, kompozitok és polimerek, valamint más szerkezeti anyagok hosszváltozásának vizsgálatára. Lehetővé teszi a termikus viselkedésre, a folyamatparaméterekre és a szinterezési (valamint a térhálósodási) kinetikára vonatkozó információk megszerzését.
DIL-mérésekkel elérhető eredmények
- Lineáris hő tágulás
- Hőtágulási együttható (Lineáris hőtágulási együttható (CLTE/CTE)A lineáris hőtágulási együttható (CLTE) az anyag hosszváltozását írja le a hőmérséklet függvényében.CTE)
- Térfogatváltozás
- Sűrűségváltozás
- Zsugorodási lépések
- Lágyulási pont
- Üvegesedési hőmérséklet
- Anizotróp viselkedés
- FázisátmenetekA fázisátalakulás (vagy fázisváltás) kifejezést leggyakrabban a szilárd, folyékony és gáz halmazállapotok közötti átmenetek leírására használják.Fázisátmenetek
- Sinterelési hőmérséklet és lépcsőfok
- Az adalékanyagok és nyersanyagok hatása
- Pl. szerves kötőanyagok bomlási hőmérséklete
- Az égetési folyamatok optimalizálása
- Kalorikus hatások c-DTA® alkalmazásával
- Sebességvezérelt szinterezés (RCS)A szinterezett termékek tulajdonságait, mint például a sűrűség vagy a szemcseméret-eloszlás, a szinterelési körülmények (hőmérséklet, atmoszféra stb.) és különösen a szinterelési sebesség határozza meg. Sebességvezérelt szinterezés (RCS)
- Kinetika Neo: Dilatométeres mérések felhasználhatók kinetikai elemzésre, pl. SzinterezésA szinterezés olyan gyártási eljárás, amelynek során kerámia- vagy fémporból mechanikailag erős testet alakítanak ki. szinterezés. Erre a célra a NETZSCH Kinetics Neo szoftver áll rendelkezésre).
Hibaforrások a mérés során és azok minimalizálása
A dilatométeres mérések elvégzésekor azonban különböző hibaforrások fordulhatnak elő, amelyek pontatlan eredményekhez vezethetnek.
Az alábbiakban öt gyakori hibaforrást mutatunk be, és elmagyarázzuk, hogy a NETZSCH Analyzing & Testing dilatométerei (DIL) miért segítenek minimalizálni ezeket.
- A minta előkészítése: A minták nem megfelelő előkészítése hibás eredményekhez vezethet. A NETZSCH a dilatométerekhez tartozékok széles választékát kínálja, amelyek lehetővé teszik a különböző anyagokból, valamint különböző méretű és alakú minták megfelelő előkészítését és mérését: Például kínálunk mintacsiszolót a síkban párhuzamos minták előállításához, speciális előkészítő készletet, amely tartalmaz fóliatartót fóliákhoz, valamint speciális mintatartályokat porokhoz és viaszokhoz a mintaelőkészítés optimalizálása érdekében.
További információkért kérjük, tekintse meg a széles körű tartozékkatalógusunkat. - A minta pozicionálása: A minta helytelen pozicionálása mérési hibákhoz vezethet. A NETZSCH dilatométerek rendelkeznek egy MultiTouch funkcióval, amely teljesen automatikusan "rázza" a mintát az optimális pozícióba, és így megfelelően központosítja és igazítja azt. Ennek során a minta kezdeti hossza automatikusan meghatározásra kerül egy előre meghatározott érintkezési erő mellett.
- Külső hőmérsékleti hatások: A szobahőmérséklet ingadozása befolyásolhatja a mérési eredményt, ha a mérőrendszer nem megfelelően szigetelt. A dilatométereink mérőrendszerei kiváló szigeteléssel vannak ellátva, és a Select és Supreme változatban elektronikus hőmérséklet-szabályozással is működnek, hogy minimalizálják ezeket a hatásokat.
- Szennyeződések: A szennyeződések is meghamisíthatják az eredményeket. A NETZSCH Analyzing & Testing dilatométereinek robusztus mintatartói és tartói a mérés előtt könnyen és alaposan megtisztíthatók, illetve szükség esetén kicserélhetők.
- Műszaki hibák: A mérőeszköz vagy a szoftver hibái hibás eredményekhez vezethetnek. A NETZSCH dilatométerek intelligens mérőrendszerekkel rendelkeznek, amelyek például egy optoelektronikus mérőérzékelő és egy működtető segítségével pontosan szabályozható erő kifejtésén alapulnak. Ez lehetővé teszi, hogy a minta tágulásától vagy zsugorodásától függetlenül 10 mN és 3N között állandó erőt alkalmazzanak: A NanoEye mérőrendszer a teljes, akár 50 mm-es mérési tartományban akár 0,1 nm-es felbontást kínál, és mindezt karbantartásmentesen, tökéletes linearitással teszi.
A beépített Proteus® dilatométer kiértékelő szoftver segítségével az eredmények megbízhatóan, gyorsan és egyszerűen meghatározhatók.
Szöveg beillesztése
NETZSCH dilatométerek nagy pontosságot, megbízhatóságot és mérési pontosságot kínálnak a -180 és 2800°C közötti hőmérséklet-tartományban. A karbantartásmentes mérőrendszer, az automatizált mérési folyamatok és a felhasználóbarát Proteus® szoftver lehetővé teszik az egyszerű és hatékony működést, és segítenek a hibaforrások minimalizálásában.
Tudjon meg többet a dilatométer termékportfóliónkról: Dilatométer (DIL) - NETZSCH Analizálás és vizsgálat
