NETZSCH ジャパンは10周年、NETZSCH デバイスは60周年を迎え、両者の節目を象徴するロゴを掲げた。

22.09.2022 by Aileen Sammler

60 Years ofNETZSCH-Gerätebau:サーモリフレクタンス - 薄膜のLFA法

LFA法は一般的に0.1mmから6mmの厚さの試料に使用できます。しかし、電子機器の設計がますます進歩し、それに伴って効率的な熱管理が求められる中、熱拡散率、熱伝導率、遷移接触抵抗をナノメートル領域まで正確に測定することがこれまで以上に重要になっています。この応用分野では、材料の厚さは10nmから2μmに及ぶ。相変化ストレージ、熱電薄膜、発光ダイオード、誘電体界面層、あるいは透明導電膜の形態をとることもあります。

高度なナノテクノロジー・アプリケーションを表す、複雑なプリント回路パターンが施された透明基板を持つ手。

2008年、日本のピコサーム・コーポレーションは2つのサーモリフレクタンス装置を発表した。 NanoTRPicoTRを市場に投入した。この2つの装置により、数10nmから数10µmの厚さ範囲の材料の測定が可能になった。特に5G装置の開発では、薄膜のレーザーフラッシュ法として時間領域サーモリフレクタンス法を採用するメーカーが増えている。

2014年、NETZSCH Analyzing & Testing Business Unitの子会社であるNETZSCH Japan K.K.がPicoTherm Corporationの総代理店となりました。当社のLFA装置との組み合わせにより、NETZSCH 、ナノメートル領域の薄膜からミリメートル領域のバルク材料まで、あらゆるソリューションを提供できる体制が整った。2020年10月より、PicoTherm CorporationはNETZSCH Japan, K.K.の100%子会社となり、NETZSCH Groupに完全に属することになりました。

NETZSCH NanoTR 超薄膜分析に最適な、熱測定グラフを表示するディスプレイ付きアナライザー。
ネッチNanoTR

ご存知でしたか? NETZSCH ジャパン株式会社は今年、設立10周年を迎えます!

篠田良夫氏をはじめとする日本のチーム全員に、心よりお祝いを申し上げます!

NETZSCH ジャパンの篠田社長が、PicoTRNanoTR について、これまでの経験を交えて語ってくれました。

「2022 年、NETZSCH-Gerätebau GmbH は創立 60 周年を迎えますが、同時にNETZSCH Japan も創立 10 周年を迎えます!いわば、1年で2つの記念日を迎えることになる。1999年、私はNETZSCH 東京駐在員事務所で働き始めました。当時、従業員はわずか3名、年間受注額は1億円から2億円程度でしたが、現在では従業員も45名を超え、売上高も順調に伸びています。

日本では20年前、熱分析はすでに確固たる地位を築いていました。NETZSCH LFA 447 NanoFlashこのLFAは、薄い試料を迅速に測定できるという点で競合他社に大きな優位性を持っており、電子材料の市場ニーズに的確に対応することができました。しかし、当社が成長するにつれ、ナノテクノロジー分野で、当時の製品ラインナップでは容易に解決できない応用事例にも遭遇しました。調べてみると、当時産業技術総合研究所(産総研)の新興企業であったピコサーム・コーポレーションが、このような用途のための優れたデバイス「NanoTR/PicoTR 」をすでに持っていることを発見しました。約10年前のことです。

私たちは直ちに、より緊密な協力関係を築くための初期交渉に入り、その結果、2014年にPicoTR 製品の独占代理店となり、2020年9月の合併に至った。今日、時間領域サーモリフレクタンス(TDTR)製品は、当社の販売量に大きく貢献しています。

NanoTR/PicoTR の大きな利点は、NMIJ/産総研が独自に開発した技術の信頼性です。認証標準物質によって、日本の業界標準に準拠した卓越性が実証された唯一の商業的超薄膜測定法です。

NanoTR/PicoTR は、NETZSCH のためのナノテクノロジーへのドアオープナーになり得る"

篠田 良夫

PicoThermチームの石川和子さんと伊藤直子さんは、PicoTR の装置の横に立ち、熱分析技術を紹介している。
写真PicoTherm 製品チームとPicoTR; 左:石川和子氏(ナノテクノロジー事業フィールドマネージャー)、右:伊藤直子氏(研究開発エンジニア):伊藤直子氏(研究開発エンジニア)
PicoTherm チームメンバーは、超薄膜熱測定用の革新的なNanoTR とPicoTR アナライザーを紹介する。

時間領域サーモリフレクタンス法熱拡散率測定装置について詳しく知る:

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