photovoltaik

Silicium-Wafer — Thermophysikalische Eigenschaften

In diesem Beispiel wurden die thermophysikalischen Eigenschaften eines Silicium-Wafers mit der LFA 457 MicroFlash®® gemessen

Im Temperaturbereich von -100 °C bis 500 °C nehmen Wärmeleitfähigkeit und Temperaturleitfähigkeit kontinuierlich ab.
Für die Bestimmung der spezifischen Wärmekapazität wurde die DSC 204 F1 Phoenix®® verwendet. Die Standardabweichung der Datenpunkte ist kleiner 1 %.

LFA- und DSC-Messung an einem Silicium-Wafer zwischen -100 °C und 500 °C.