NETZSCH til halvleder- og elektronikafdelinger i Californien

Karakteriser halvleder- og elektroniske materialer med sikkerhed

Inden for udvikling af halvledere, elektronik, tyndfilm og funktionelle materialer er det metodevalget, der afgør, hvor pålideligt man kan knytte termisk adfærd til procesvinduer, enhedens ydeevne og pålidelighed på lang sigt.

NETZSCH Analyzing & Testing hjælper californiske teams inden for forskning og udvikling, materialevidenskab, procesudvikling, enhedsudvikling, pålidelighed og kvalitet med at identify e egnede termiske, mekaniske og termofysiske karakteriseringsmetoder til deres materialer og målemål.

Tal med en ekspert i karakterisering af halvledermaterialer

Drøft dit materialesystem, dit udviklingsmål og dine målekrav med eksperterne fr NETZSCH.

Kontakt eksperterne hos NETZSCH

Karakteriseringsmetoder til halvledere, elektronik og funktionelle materialer

NETZSCH støtter tekniske teams med metoder til vurdering af termiske overgange, stabilitet, mekanisk adfærd, dimensionelle ændringer og varmeledning inden for materialeudvikling, procesteknik og pålidelighedsarbejde.

En professionel mand med briller, iført en blå ternet skjorte, der ser selvsikkert ind i kameraet foran en neutral baggrund.
Laser-flash-analyse (LFA)

Måling af termisk diffusivitet som en funktion af temperaturen med henblik på at bestemme varmeledningsevnen og vurdere varmeoverførselsevnen i faste stoffer, herunder halvledermaterialer, keramiske materialer og termiske grænsefladematerialer.

En professionel mand med briller, iført en blå ternet skjorte, der ser selvsikkert ind i kameraet foran en neutral baggrund.
PicoTR / NanoTR

Måling af termisk diffusivitet og varmeledningsevne i tynde film og mikrostrukturerede materialer, hvilket understøtter vurderingen af varmetransport i halvlederkomponenter, belægninger og termiske grænsefladematerialer.

En professionel mand med briller, iført en blå ternet skjorte, der ser selvsikkert ind i kameraet foran en neutral baggrund.
Differentialscanningskalorimetri (DSC)

Undersøg termiske overgange, smelte- og krystalliseringsadfærd, hærdningsreaktioner samt materialegenskaber relateret til varmekapacitet.

En professionel mand med briller, iført en blå ternet skjorte, der ser selvsikkert ind i kameraet foran en neutral baggrund.
Termogravimetrisk analyse (TGA)

Mål masseændringer som en funktion af temperaturen eller tiden for at vurdere termisk stabilitet, fugt- og opløsningsmiddelindhold samt nedbrydningsadfærd i materialer til halvlederprocesser, hvilket understøtter risikovurdering af udgasning og kontrol af forurening.

Er du i tvivl om, hvilken metode der passer til dit materiale eller dit udstyr?

Tal med eksperterne fr NETZSCH, der yder support til hold i Californien.

Kontakt eksperterne hos NETZSCH

Udviklet med udgangspunkt i kravene til udvikling af halvledere og elektronik

Valg af måleudstyr til halvleder- og elektroniske materialer skal sikre reproducerbare data på tværs af arbejdsgange inden for udvikling, procesteknik, pålidelighed og kvalitet. Den rette konfiguration afhænger af prøvens geometri, atmosfæren, temperaturprogrammet, gennemstrømningen og den materialegenskab, der skal evalueres.

NETZSCH hjælper teams med at evaluere metoder til:

Fra materialescreening til pålidelighed af emballagen: Eksperterne fra NETZSCH hjælper teams i Californien med at fastlægge en karakteriseringsmetode, der knytter måledata sammen med beslutninger vedrørende processer, enheder og kvalitet.

En teknisk partner inden for karakterisering af halvledere og elektronik

Anvendelsesorienteret rådgivning
Drøft materialets opbygning, prøveform, målegenskaber, omgivelsesforhold og målebetingelser, inden der vælges en metode eller konfiguration.
Dækning af komplementære behandlingsformer
Kombiner DSC, TGA/STA-EGA, DMA, TMA/dilatometri, laserflashanalyse, kalorimetri og reologi, når anvendelsen kræver en helhedsoversigt over flere egenskaber.
Support ud over valg af instrument
Benyt jer af eksperterne fr NETZSCH, når det gælder metodeudvikling, uddannelse og praktisk fortolkning af data inden for forskning, proces- og kvalitetsmiljøer.

Tal med os om din anvendelse inden for halvledere eller elektronik

Fortæl os om dit materiale, prøveform, spørgsmål vedrørende udvikling eller pålidelighed samt de egenskaber, du har brug for at måle. En ekspert fra NETZSCH vil kontakte dit team i Californien for at drøfte egnede karakteriseringsmetoder og instrumentmuligheder.

Find den rigtige karakteriseringsmetode til dine materialer

Start med dit spørgsmål om halvledere, elektronik, tyndfilm eller funktionelle materialer. Eksperterne hos NETZSCH vil hjælpe dit team i Californien med at vurdere egnede metoder og instrumenter.

Kontakt eksperterne hos NETZSCH

Det her kunne også interessere dig

Udforsk NETZSCH ’s produkter, anvendelsesvejledninger, tjenester, e-læring og arrangementer inden for karakterisering af halvledere, elektronik og funktionelle materialer.

AI Overview
An error occurred. Please try again.