NETZSCH Kalifornian puolijohde- ja elektroniikkatiimeille

Puolijohde- ja elektroniikkamateriaalien luotettava karakterisointi

Puolijohteiden, elektroniikan, ohutkalvojen ja toiminnallisten materiaalien kehityksessä menetelmän valinta määrää, kuinka luotettavasti lämpökäyttäytyminen voidaan yhdistää prosessi-ikkunoihin, laitteiden suorituskykyyn ja pitkäaikaiseen luotettavuuteen.

NETZSCH Analyzing & Testing auttaa Kalifornian tutkimus- ja kehitystiimejä sekä materiaalitieteen, prosessi-, laite-, luotettavuus- ja laatutiimejä identify löytämään materiaaleilleen ja mittaustavoitteilleen sopivat lämpö-, mekaaniset ja termofysikaaliset karakterisointimenetelmät.

Ota yhteyttä puolijohdemateriaalien karakterisointiin erikoistuneeseen asiantuntijaan

Keskustele materiaalijärjestelmästäsi, kehitystavoitteistasi ja mittausvaatimuksistasi NETZSCH -sivuston asiantuntijoiden kanssa.

Ota yhteyttä NETZSCH -asiantuntijoihin

Puolijohteiden, elektroniikan ja toiminnallisten materiaalien karakterisointimenetelmät

NETZSCH tukee teknisiä tiimejä tarjoamalla menetelmiä lämpösiirtymien, vakauden, mekaanisen käyttäytymisen, mittamuutosten ja lämmönsiirron arviointiin materiaalien kehittämisen, prosessisuunnittelun ja luotettavuustutkimuksen yhteydessä.

Silmälasipäinen ammattimies, jolla on yllään sininen ruudullinen paita ja joka katsoo itsevarmasti kameraan neutraalia taustaa vasten.
Laservälähdysanalyysi (LFA)

Mitataan lämpödiffuusiokykyä lämpötilan funktiona lämmönjohtavuuden määrittämiseksi ja lämmönsiirtokyvyn arvioimiseksi kiinteissä aineissa, mukaan lukien puolijohdemateriaalit, keraamit ja lämpörajapintamateriaalit.

Silmälasipäinen ammattimies, jolla on yllään sininen ruudullinen paita ja joka katsoo itsevarmasti kameraan neutraalia taustaa vasten.
PicoTR / NanoTR

Mitataan lämpöleviämiskerrointa ja lämmönjohtavuutta ohuissa kalvoissa ja mikrorakenteisissa materiaaleissa, mikä tukee lämmönsiirron arviointia puolijohdekomponenteissa, pinnoitteissa ja lämpörajapintamateriaaleissa.

Silmälasipäinen ammattimies, jolla on yllään sininen ruudullinen paita ja joka katsoo itsevarmasti kameraan neutraalia taustaa vasten.
Differentiaalinen skannauskalorimetria (DSC)

Tutkitaan lämpömuutoksia, sulamis- ja kiteytymiskäyttäytymistä, kovettumisreaktioita sekä lämpökapasiteettiin liittyviä materiaaliominaisuuksia.

Silmälasipäinen ammattimies, jolla on yllään sininen ruudullinen paita ja joka katsoo itsevarmasti kameraan neutraalia taustaa vasten.
Termogravimetrinen analyysi (TGA)

Mitataan massan muutoksia lämpötilan tai ajan funktiona, jotta voidaan arvioida puolijohdeprosessimateriaalien lämpöstabiilisuutta, kosteus- ja liuotinpitoisuutta sekä hajoamiskäyttäytymistä, mikä tukee kaasun vapautumisen riskinarviointia ja kontaminaation hallintaa.

Etkö ole varma, mikä menetelmä sopii materiaalisi tai laitteesi osalta?

Ota yhteyttä NETZSCH -sivuston asiantuntijoihin, jotka tukevat kalifornialaisia joukkueita.

Ota yhteyttä NETZSCH -asiantuntijoihin

Suunniteltu puolijohteiden ja elektroniikan kehitystarpeiden mukaisesti

Puolijohde- ja elektroniikkamateriaaleja koskevien mittauslaitteiden valintojen on tuettava toistettavia tuloksia kehityksen, prosessisuunnittelun, luotettavuuden ja laadunhallinnan työnkulkuissa. Sopiva kokoonpano riippuu näytteen geometriasta, ilmakehästä, lämpötilaohjelmasta, läpimenokapasiteetista ja arvioitavasta materiaaliominaisuudesta.

NETZSCH auttaa tiimejä arvioimaan menetelmiä seuraaviin kohteisiin:

Materiaalien seulonnasta pakkausten luotettavuuteen: NETZSCH asiantuntijat auttavat kalifornialaisia tiimejä määrittelemään karakterisointimenetelmän, joka yhdistää mittaustiedot prosessi-, laite- ja laatupäätöksiin.

Tekninen kumppani puolijohteiden ja elektroniikan karakterisointiin

Sovelluksiin keskittyvä konsultointi
Keskustelkaa materiaalin rakenteesta, näytteen muodosta, tavoiteltavista ominaisuuksista, olosuhteista ja mittausolosuhteista ennen menetelmän tai kokoonpanon valitsemista.
Täydentävien hoitomuotojen kattavuus
Yhdistä DSC-, TGA/STA-EGA-, DMA-, TMA/dilatometria-, laserflash-analyysi-, kalorimetria- ja reologiamenetelmät silloin, kun sovelluksessa tarvitaan useita ominaisuuksien näkökulmia.
Tukea laitteen valinnan lisäksi
Käytä hyväksi NETZSCH:n asiantuntijoiden osaamista menetelmien kehittämisessä, koulutuksessa ja käytännön tietojen tulkinnassa tutkimus-, prosessi- ja laatuympäristöissä.

Keskustele puolijohde- tai elektroniikkasovelluksestasi

Kerro meille materiaalistasi, näytteen muodosta, kehitykseen tai luotettavuuteen liittyvästä kysymyksestäsi sekä ominaisuuksista, joita haluat mitata. NETZSCH -asiantuntija ottaa yhteyttä Kalifornian tiimiisi keskustellakseen sopivista karakterisointimenetelmistä ja laitevaihtoehdoista.

Määritä materiaaleillesi sopiva karakterisointimenetelmä

Aloita esittämällä kysymyksesi puolijohteista, elektroniikasta, ohutkalvoista tai toiminnallisista materiaaleista. NETZSCH:n asiantuntijat auttavat Kalifornian tiimiäsi arvioimaan sopivia menetelmiä ja laitteistoja.

Ota yhteyttä NETZSCH -asiantuntijoihin

Sinua saattaisivat kiinnostaa myös seuraavat

Tutustu NETZSCH -sivuston tuotteisiin, sovellustietoihin, palveluihin, verkkokoulutuksiin ja tapahtumiin, jotka liittyvät puolijohteiden, elektroniikan ja funktionaalisten materiaalien karakterisointiin.

AI Overview
An error occurred. Please try again.