NETZSCH Kalifornian puolijohde- ja elektroniikkatiimeille

Puolijohde- ja elektroniikkamateriaalien luotettava karakterisointi

Puolijohteiden, elektroniikan, ohutkalvojen ja toiminnallisten materiaalien kehityksessä menetelmän valinta määrää, kuinka luotettavasti lämpökäyttäytyminen voidaan yhdistää prosessi-ikkunoihin, laitteiden suorituskykyyn ja pitkäaikaiseen luotettavuuteen.

NETZSCH Analyzing & Testing auttaa Kalifornian tutkimus- ja kehitystiimejä sekä materiaalitieteen, prosessi-, laite-, luotettavuus- ja laatutiimejä identify löytämään materiaaleilleen ja mittaustavoitteilleen sopivat lämpö-, mekaaniset ja termofysikaaliset karakterisointimenetelmät.

Ota yhteyttä puolijohdemateriaalien karakterisoinnin asiantuntijaan

Keskustele materiaalijärjestelmästäsi, kehitystavoitteistasi ja mittausvaatimuksistasi NETZSCH -sivuston asiantuntijoiden kanssa.

Ota yhteyttä NETZSCH -asiantuntijoihin

Puolijohteiden, elektroniikan ja toiminnallisten materiaalien karakterisointimenetelmät

NETZSCH tukee teknisiä tiimejä tarjoamalla menetelmiä lämpömuutosten, vakauden, mekaanisen käyttäytymisen, mittamuutosten ja lämmönsiirron arviointiin materiaalien kehittämisen, prosessisuunnittelun ja luotettavuustutkimuksen yhteydessä.

Differentiaalinen skannauskalorimetria (DSC)

Laske lämpömuutokset, reaktiot ja ominaislämpö.

DSC tukee lasittumiskäyrän, sulamisen, kiteytymisen, kovettumisen, faasimuutosten, hapettumiskäyttäytymisen ja lämpökapasiteetin arviointia.

Soveltuu: Ohutkalvoille, kapselointimateriaaleille, dielektrisille materiaaleille, fotoresisteille, juotteille ja funktionaalisille keraameille.

Termogravimetrinen analyysi (TGA/STA)

Tutkitaan stabiilisuutta, hajoamista ja haihtuvia aineita.

TGA- ja STA-menetelmillä mitataan massan muutosta ja lämpövaikutuksia; yhdistämällä ne FT-IR-, MS- tai GC-MS -menetelmiin voidaan identify oida vapautuneita kaasuja.

Soveltuu: kosteus-, orgaanisten aineiden, hapettumisen, sideaineen palamisen, hajoamisen ja kontaminaationtutkimuksiin.

Dynaaminen mekaaninen analyysi (DMA)

Viskoplastisen vasteen yhteys lämpötilaan ja taajuuteen.

DMA mittaa jäykkyyttä, vaimennusta ja siirtymiä kontrolloiduissa lämpötila-, taajuus- ja muodonmuutosolosuhteissa.

Soveltuu: Liimoihin, pinnoitteisiin, kapselointimateriaaleihin, joustavaan elektroniikkaan ja rajapintamateriaaleihin.

Dilatometria (DIL) ja termomekaaninen analyysi (TMA)

Mitataan mittojen muutoksia määritellyissä lämpötila- ja kuormitusolosuhteissa.

DIL- ja TMA-menetelmät tukevat lämpölaajenemista, pehmenemistä, kutistumista, sintrausta ja mittavakauden tutkimuksia.

Soveltuu seuraaviin kohteisiin: piikiekot, pakkaukset, substraatit, keraamiset komponentit, pinnoitteet ja liitäntäjärjestelmät.

Etkö ole varma, mikä menetelmä sopii parhaiten materiaaliisi tai laitteeseesi?

Ota yhteyttä NETZSCH -sivuston asiantuntijoihin, jotka tukevat kalifornialaisia joukkueita.

Ota yhteyttä NETZSCH -asiantuntijoihin

Suunniteltu puolijohteiden ja elektroniikan kehitystarpeiden mukaisesti

Puolijohde- ja elektroniikkamateriaaleja koskevien mittauslaitteiden valintojen on tuettava toistettavia tuloksia kehityksen, prosessisuunnittelun, luotettavuuden ja laadunhallinnan työnkulkuissa. Sopiva kokoonpano riippuu näytteen geometriasta, ilmakehästä, lämpötilaohjelmasta, läpimenokapasiteetista ja arvioitavasta materiaaliominaisuudesta.

NETZSCH auttaa tiimejä arvioimaan menetelmiä seuraaviin kohteisiin:

Materiaalien seulonnasta pakkausten luotettavuuteen: NETZSCH asiantuntijat auttavat kalifornialaisia tiimejä määrittelemään karakterisointimenetelmän, joka yhdistää mittaustiedot prosessi-, laite- ja laatupäätöksiin.

Tekninen kumppani puolijohteiden ja elektroniikan karakterisointiin

Sovelluksiin keskittyvä konsultointi
Keskustelkaa materiaalin rakenteesta, näytteen muodosta, tavoiteltavista ominaisuuksista, olosuhteista ja mittausolosuhteista ennen menetelmän tai kokoonpanon valitsemista.
Täydentävien hoitomuotojen kattavuus
Yhdistä DSC-, TGA/STA-EGA-, DMA-, TMA/dilatometria-, laserflash-analyysi-, kalorimetria- ja reologiamenetelmät silloin, kun sovelluksessa tarvitaan useita ominaisuuksien näkökulmia.
Tukea laitteen valinnan lisäksi
Käytä hyväksi NETZSCH:n asiantuntijoiden osaamista menetelmien kehittämisessä, koulutuksessa ja käytännön tietojen tulkinnassa tutkimus-, prosessi- ja laatuympäristöissä.

Keskustele puolijohde- tai elektroniikkasovelluksestasi

Kerro meille materiaalistasi, näytteen muodosta, kehitykseen tai luotettavuuteen liittyvästä kysymyksestäsi sekä ominaisuuksista, joita haluat mitata. NETZSCH -asiantuntija ottaa yhteyttä Kalifornian tiimiisi keskustellakseen sopivista karakterisointimenetelmistä ja laitevaihtoehdoista.

Määritä materiaaleillesi sopiva karakterisointimenetelmä

Aloita esittämällä kysymyksesi puolijohteista, elektroniikasta, ohutkalvoista tai toiminnallisista materiaaleista. NETZSCH:n asiantuntijat auttavat Kalifornian tiimiäsi arvioimaan sopivia menetelmiä ja laitteistoja.

Ota yhteyttä NETZSCH -asiantuntijoihin

Tarvitsetko ohjeita ennen kuin otat meihin yhteyttä?

Aloita materiaalikysymyksestä

Selvitä projektisi kannalta merkittävät ominaisuudet, lämpöhistoria, näytteen geometria ja käyttöolosuhteet. NETZSCH asiantuntijat voivat auttaa sovittamaan nämä vaatimukset DSC-, TGA/STA-mittauksiin, joihin sisältyy kaasunerotusanalyysi, DMA-, TMA- ja dilatometrimittauksiin, laserflash-analyysiin, kalorimetriaan tai reologiaan.

Keskustele siitä, miten lämpömuutoksia, massahäviötä, kosteutta, sintrausta, mittamuutoksia, lämmönjohtavuutta ja rajapintojen luotettavuutta koskevat tiedot voivat tukea kehitystyötäsi ja laatuun liittyviä päätöksiäsi.

Sinua saattaisi kiinnostaa myös

Tutustu NETZSCH -sivuston tuotteisiin, sovellustietoihin, palveluihin, verkko-opiskeluun ja tapahtumiin, jotka liittyvät puolijohteiden, elektroniikan ja funktionaalisten materiaalien karakterisointiin.

AI Overview
An error occurred. Please try again.