NETZSCH pentru echipele din domeniul semiconductorilor și al electronicii din California

Caracterizați cu încredere materialele semiconductoare și electronice

În domeniul dezvoltării semiconductoarelor, electronicii, filmelor subțiri și a materialelor funcționale, alegerea metodei determină cât de fiabil se poate corela comportamentul termic cu ferestrele de proces, performanța dispozitivelor și fiabilitatea pe termen lung.

NETZSCH Serviciile de analiză și testare ajută echipele din California din domeniile cercetării și dezvoltării, științei materialelor, proceselor, dispozitivelor, fiabilității și calității d identify area unor metode adecvate de caracterizare termică, mecanică și termofizică pentru materialele și obiectivele lor de măsurare.

Discutați cu un expert în caracterizarea materialelor semiconductoare

Discutați cu experții de l NETZSCH despre sistemul dvs. de materiale, obiectivele de dezvoltare și cerințele de măsurare.

Contactați experții de la „ NETZSCH ”

Metode de caracterizare pentru semiconductori, electronice și materiale funcționale

NETZSCH oferă sprijin echipelor tehnice prin metode de evaluare a tranzițiilor termice, a stabilității, a comportamentului mecanic, a variațiilor dimensionale și a transportului de căldură în cadrul activităților de dezvoltare a materialelor, de inginerie a proceselor și de asigurare a fiabilității.

Calorimetria cu scanare diferențială (DSC)

Determinarea tranzițiilor termice, a reacțiilor și a căldurii specifice.

DSC permite evaluarea tranziției vitroase, topirii, cristalizării, întăririi, tranzițiilor de fază, comportamentului la oxidare și capacității termice.

Relevant pentru: pelicule subțiri, materiale de încapsulare, dielectrice, fotoreziste, aliaje de lipit și ceramică funcțională.

Analiza termogravimetrică (TGA/STA)

Analizați stabilitatea, descompunerea și substanțele volatile.

TGA și STA măsoară variația de masă și efectele termice; cuplarea cu FT-IR, MS sau GC-MS permite identify gazele emise.

Relevant pentru: studii privind umiditatea, substanțele organice, oxidarea, arderea lianților, descompunerea și contaminarea.

Analiza mecanică dinamică (DMA)

Corelația dintre răspunsul viscoelastic și temperatură și frecvență.

DMA măsoară rigiditatea, amortizarea și tranzițiile în condiții controlate de temperatură, frecvență și deformare.

Relevant pentru: adezivi, acoperiri, materiale de încapsulare, electronice flexibile și materiale de interfață.

Dilatometria (DIL) și analiza termomecanică (TMA)

Măsurarea variațiilor dimensionale la temperaturi și sarcini prestabilite.

DIL și TMA permit efectuarea de studii privind dilatarea termică, înmuierea, contracția, sinterizarea și stabilitatea dimensională.

Aplicabil pentru: plăci, ambalaje, substraturi, componente ceramice, acoperiri și sisteme de interconectare.

Nu știi sigur care metodă se potrivește cu materialul tău sau cu întrebarea legată de dispozitiv?

Discutați cu experții d NETZSCH, care oferă sprijin echipelor din California.

Contactați experții de la „ NETZSCH ”

Conceput pentru a răspunde cerințelor din domeniul dezvoltării semiconductoarelor și electronicii

Deciziile privind instrumentele utilizate pentru materialele semiconductoare și electronice trebuie să asigure reproducibilitatea datelor pe tot parcursul fluxurilor de lucru din domeniile dezvoltării, ingineriei proceselor, fiabilității și calității. Configurația adecvată depinde de geometria probei, de atmosfera, de programul de temperatură, de randamentul de procesare și de proprietatea materialului care este evaluată.

NETZSCH ajută echipele să evalueze metode pentru:

De la evaluarea materialelor până la fiabilitatea ambalajelor: experții de l NETZSCH ajută echipele din California să definească o abordare de caracterizare care să coreleze datele de măsurare cu deciziile privind procesele, dispozitivele și calitatea.

Un partener tehnic pentru caracterizarea semiconductoarelor și a componentelor electronice

Consultanță axată pe aplicații
Analizați structura materialului, forma probei, proprietățile țintă, mediile de testare și condițiile de măsurare înainte de a alege o metodă sau o configurație.
Acoperirea metodelor complementare
Combinați DSC, TGA/STA-EGA, DMA, TMA/dilatometrie, analiza cu laser flash, calorimetria și reologia în cazul în care aplicația necesită o analiză din mai multe perspective a proprietăților.
Asistență dincolo de alegerea instrumentului
Apelați la experții d NETZSCH pentru dezvoltarea metodelor, instruire și interpretarea practică a datelor în domeniul cercetării, al proceselor și al calității.

Discutați despre aplicația dumneavoastră din domeniul semiconductorilor sau al electronicii

Prezentați-ne detalii despre materialul dumneavoastră, forma probei, întrebările legate de dezvoltare sau fiabilitate, precum și proprietățile pe care doriți să le măsurați. Un expert de la NETZSCH va lua legătura cu echipa dumneavoastră din California pentru a discuta despre metodele adecvate de caracterizare și opțiunile de instrumente.

Stabiliți abordarea potrivită pentru caracterizarea materialelor dumneavoastră

Începeți cu întrebarea dumneavoastră legată de semiconductori, electronică, pelicule subțiri sau materiale funcționale. Experții de la NETZSCH vor ajuta echipa dumneavoastră din California să evalueze metodele și echipamentele adecvate.

Contactați experții de l NETZSCH

Aveți nevoie de informații despre metodă înainte de a ne contacta?

Începeți cu întrebarea privind materialele

Precizați proprietățile, istoricul termic, geometria probei și condițiile de funcționare relevante pentru proiectul dumneavoastră. Experții de la NETZSCH vă pot ajuta să corelați aceste cerințe cu metodele DSC, TGA/STA cu analiză a gazelor emise, DMA, TMA, dilatometrie, analiză cu laser flash, calorimetrie sau reologie.

Discutați despre modul în care datele privind tranzițiile termice, pierderea de masă, umiditatea, sinterizarea, modificările dimensionale, conductivitatea termică și fiabilitatea interfețelor pot susține deciziile dumneavoastră privind dezvoltarea și calitatea.

S-ar putea să vă intereseze și

Descoperiți produsele NETZSCH, informații despre aplicații, servicii, cursuri online și evenimente relevante pentru caracterizarea semiconductorilor, a componentelor electronice și a materialelor funcționale.

AI Overview
An error occurred. Please try again.