NETZSCH voor teams op het gebied van halfgeleiders en elektronica in Californië

Karakteriseer halfgeleider- en elektronische materialen met vertrouwen

Bij de ontwikkeling van halfgeleiders, elektronica, dunne films en functionele materialen bepaalt de keuze van de methode in hoeverre u het thermische gedrag op betrouwbare wijze kunt koppelen aan procesvensters, de prestaties van apparaten en de betrouwbaarheid op lange termijn.

NETZSCH Analyzing & Testing ondersteunt R&D-, materiaalkunde-, proces-, apparaat-, betrouwbaarheids- en kwaliteitsteams in Californië bij het identify en van geschikte thermische, mechanische en thermofysische karakteriseringsmethoden voor hun materialen en meetdoelstellingen.

Neem contact op met een deskundige op het gebied van karakterisering van halfgeleidermaterialen

Bespreek uw materiaalsysteem, ontwikkelingsdoelstellingen en meetvereisten met de experts v NETZSCH.

Neem contact op met de experts van NETZSCH

Karakteriseringsmethoden voor halfgeleiders, elektronica en functionele materialen

NETZSCH ondersteunt technische teams met methoden voor het beoordelen van thermische overgangen, stabiliteit, mechanische reacties, maatveranderingen en warmteoverdracht binnen de materiaalkunde, procestechniek en betrouwbaarheidsonderzoek.

Een zakelijke man met een bril, gekleed in een blauw geruit overhemd, die zelfverzekerd in de camera kijkt tegen een neutrale achtergrond.
Laserflitsanalyse (LFA)

Meet de thermische diffusiviteit als functie van de temperatuur om de thermische geleidbaarheid te bepalen en de warmteoverdrachtsprestaties in vaste stoffen te evalueren, waaronder halfgeleidermaterialen, keramiek en thermische interfacematerialen.

Een zakelijke man met een bril, gekleed in een blauw geruit overhemd, die zelfverzekerd in de camera kijkt tegen een neutrale achtergrond.
PicoTR / NanoTR

Het meten van de thermische diffusiviteit en de thermische geleidbaarheid in dunne films en microgestructureerde materialen, ter ondersteuning van de evaluatie van warmtetransport in halfgeleidercomponenten, coatings en thermische interfacematerialen.

Een zakelijke man met een bril, gekleed in een blauw geruit overhemd, die zelfverzekerd in de camera kijkt tegen een neutrale achtergrond.
Differentiële scanningcalorimetrie (DSC)

Onderzoek thermische overgangen, smelt- en kristallisatiegedrag, uithardingsreacties en materiaalkenmerken die verband houden met de warmtecapaciteit.

Een zakelijke man met een bril, gekleed in een blauw geruit overhemd, die zelfverzekerd in de camera kijkt tegen een neutrale achtergrond.
Thermogravimetrische analyse (TGA)

Meet massaveranderingen als functie van de temperatuur of de tijd om de thermische stabiliteit, het vocht- en oplosmiddelgehalte en het afbraakgedrag van materialen voor halfgeleiderprocessen te beoordelen, ter ondersteuning van de risicobeoordeling van uitgassing en de beheersing van verontreiniging.

Weet u niet zeker welke methode geschikt is voor uw materiaal of apparaat?

Neem contact op met de experts van NETZSCH die teams in Californië ondersteunen.

Neem contact op met de experts van NETZSCH

Ontworpen met het oog op de eisen op het gebied van halfgeleider- en elektronicaontwikkeling

Beslissingen inzake instrumentatie voor halfgeleider- en elektronische materialen moeten zorgen voor reproduceerbare gegevens in alle werkprocessen op het gebied van ontwikkeling, procesengineering, betrouwbaarheid en kwaliteit. De juiste configuratie is afhankelijk van de geometrie van het monster, de atmosfeer, het temperatuurprogramma, de doorvoercapaciteit en de materiaaleigenschap die wordt geëvalueerd.

NETZSCH Dit helpt teams bij het evalueren van methoden voor:

Van materiaalscreening tot betrouwbaarheid van de verpakking: de experts van NETZSCH helpen teams in Californië bij het vaststellen van een karakteriseringsaanpak die meetgegevens koppelt aan beslissingen op het gebied van processen, apparatuur en kwaliteit.

Een technische partner voor karakterisering van halfgeleiders en elektronica

Toepassingsgericht advies
Bespreek de materiaalopbouw, de vorm van het monster, de gewenste eigenschappen, de omgevingsomstandigheden en de meetvoorwaarden alvorens een methode of configuratie te kiezen.
Dekking van complementaire behandelmethoden
Combineer DSC, TGA/STA-EGA, DMA, TMA/dilatometrie, laserflashanalyse, calorimetrie en reologie wanneer de toepassing een veelzijdig inzicht in de eigenschappen vereist.
Ondersteuning die verder gaat dan alleen de keuze van het instrument
Schakel de experts v NETZSCH in voor methodeontwikkeling, opleidingen en de praktische interpretatie van gegevens voor onderzoeks-, proces- en kwaliteitsomgevingen.

Bespreek uw toepassing op het gebied van halfgeleiders of elektronica

Vertel ons meer over uw materiaal, het type monster, uw vraag over de ontwikkeling of betrouwbaarheid, en de eigenschappen die u wilt meten. Een expert van NETZSCH zal contact opnemen met uw team in Californië om geschikte karakteriseringsmethoden en instrumentopties te bespreken.

Bepaal de juiste karakteriseringsmethode voor uw materialen

Begin met uw vraag over halfgeleiders, elektronica, dunne films of functionele materialen. De deskundigen van het NETZSCH zullen uw team in Californië helpen bij het beoordelen van geschikte methoden en apparatuur.

Neem contact op met de experts van NETZSCH

Misschien bent u ook geïnteresseerd in

Ontdek de producten, toepassingsinformatie, diensten, e-learning en evenementen van NETZSCH die betrekking hebben op de karakterisering van halfgeleiders, elektronica en functionele materialen.

AI Overview
An error occurred. Please try again.