NETZSCH voor teams op het gebied van halfgeleiders en elektronica in Californië

Karakteriseer halfgeleider- en elektronische materialen met vertrouwen

Bij de ontwikkeling van halfgeleiders, elektronica, dunne films en functionele materialen bepaalt de keuze van de methode in hoeverre u het thermische gedrag op betrouwbare wijze kunt koppelen aan procesvensters, de prestaties van apparaten en de betrouwbaarheid op lange termijn.

NETZSCH Analyzing & Testing ondersteunt R&D-, materiaalkunde-, proces-, apparaat-, betrouwbaarheids- en kwaliteitsteams in Californië bij het identify en van geschikte thermische, mechanische en thermofysische karakteriseringsmethoden voor hun materialen en meetdoelstellingen.

Neem contact op met een deskundige op het gebied van karakterisering van halfgeleidermaterialen

Bespreek uw materiaalsysteem, ontwikkelingsdoelstellingen en meetvereisten met de experts v NETZSCH.

Neem contact op met de experts van NETZSCH

Karakteriseringsmethoden voor halfgeleiders, elektronica en functionele materialen

NETZSCH ondersteunt technische teams met methoden voor het beoordelen van thermische overgangen, stabiliteit, mechanische reacties, maatveranderingen en warmtetransport bij materiaalontwikkeling, procestechniek en betrouwbaarheidsonderzoek.

Differentiële scancalorimetrie (DSC)

Bepaal thermische overgangen, reacties en soortelijke warmte.

DSC ondersteunt de evaluatie van glasovergang, smelten, kristallisatie, uitharding, faseovergangen, oxidatiegedrag en warmtecapaciteit.

Toepasselijk voor: dunne films, inkapselingsmaterialen, diëlektrica, fotoresists, soldeermiddelen en functionele keramiek.

Thermogravimetrische analyse (TGA/STA)

Onderzoek naar stabiliteit, afbraak en vluchtige stoffen.

TGA en STA meten massaveranderingen en thermische effecten; door koppeling aan FT-IR, MS of GC-MS kan ge identify e gassen worden gemeten.

Relevant voor: onderzoek naar vochtgehalte, organische stoffen, oxidatie, uitbranden van bindmiddelen, ontleding en verontreiniging.

Dynamisch-mechanische analyse (DMA)

Breng de visco-elastische respons in verband met temperatuur en frequentie.

DMA meet stijfheid, demping en overgangen onder gecontroleerde temperatuur-, frequentie- en vervormingsomstandigheden.

Toepasselijk voor: lijmen, coatings, inkapselingsmaterialen, flexibele elektronica en grensvlakmaterialen.

Dilatometrie (DIL) en thermomechanische analyse (TMA)

Meet dimensionale veranderingen bij een vastgestelde temperatuur en belasting.

DIL en TMA ondersteunen onderzoeken naar thermische uitzetting, verzachting, krimp, sintering en maatvastheid.

Toepasselijk voor: wafers, behuizingen, substraten, keramische componenten, coatings en interconnectiesystemen.

Weet u niet zeker welke methode het beste past bij uw vraag over het materiaal of het apparaat?

Neem contact op met de experts v NETZSCH, die teams in Californië ondersteunen.

Neem contact op met de experts van NETZSCH

Ontworpen met het oog op de eisen op het gebied van halfgeleider- en elektronicaontwikkeling

Beslissingen inzake instrumentatie voor halfgeleider- en elektronische materialen moeten zorgen voor reproduceerbare gegevens in alle werkprocessen op het gebied van ontwikkeling, procesengineering, betrouwbaarheid en kwaliteit. De juiste configuratie is afhankelijk van de geometrie van het monster, de atmosfeer, het temperatuurprogramma, de doorvoercapaciteit en de materiaaleigenschap die wordt geëvalueerd.

NETZSCH Dit helpt teams bij het evalueren van methoden voor:

Van materiaalscreening tot betrouwbaarheid van de verpakking: de experts van NETZSCH helpen teams in Californië bij het vaststellen van een karakteriseringsaanpak die meetgegevens koppelt aan beslissingen op het gebied van processen, apparatuur en kwaliteit.

Een technische partner voor karakterisering van halfgeleiders en elektronica

Toepassingsgericht advies
Bespreek de materiaalopbouw, de vorm van het monster, de gewenste eigenschappen, de omgevingsomstandigheden en de meetvoorwaarden alvorens een methode of configuratie te kiezen.
Dekking van complementaire behandelmethoden
Combineer DSC, TGA/STA-EGA, DMA, TMA/dilatometrie, laserflashanalyse, calorimetrie en reologie wanneer de toepassing een veelzijdig inzicht in de eigenschappen vereist.
Ondersteuning die verder gaat dan alleen de keuze van het instrument
Schakel de experts v NETZSCH in voor methodeontwikkeling, opleidingen en de praktische interpretatie van gegevens voor onderzoeks-, proces- en kwaliteitsomgevingen.

Bespreek uw toepassing op het gebied van halfgeleiders of elektronica

Vertel ons meer over uw materiaal, het type monster, uw vraag over de ontwikkeling of betrouwbaarheid, en de eigenschappen die u wilt meten. Een expert van NETZSCH zal contact opnemen met uw team in Californië om geschikte karakteriseringsmethoden en instrumentopties te bespreken.

Bepaal de juiste karakteriseringsmethode voor uw materialen

Begin met uw vraag over halfgeleiders, elektronica, dunne films of functionele materialen. De deskundigen van NETZSCH zullen uw team in Californië helpen bij het beoordelen van geschikte methoden en apparatuur.

Neem contact op met de experts van NETZSCH

Heeft u meer informatie nodig over de werkwijze voordat u contact met ons opneemt?

Begin met de vraag over de materialen

Geef aan welke eigenschappen, thermische geschiedenis, monstergeometrie en gebruiksomstandigheden van belang zijn voor uw project. De experts van NETZSCH kunnen u helpen deze vereisten af te stemmen op DSC, TGA/STA met analyse van vrijgekomen gassen, DMA, TMA, dilatometrie, laserflashanalyse, calorimetrie of reologie.

Bespreek hoe gegevens over thermische overgangen, massaverlies, vochtgehalte, sintering, dimensionale veranderingen, Thermische geleidbaarheidThermische geleidbaarheid (λ met de eenheid W/(m-K)) beschrijft het transport van energie - in de vorm van warmte - door een massa-lichaam als gevolg van een temperatuurgradiënt (zie fig. 1). Volgens de tweede wet van de thermodynamica stroomt warmte altijd in de richting van de lagere temperatuur.thermische geleidbaarheid en de betrouwbaarheid van grensvlakken uw beslissingen op het gebied van ontwikkeling en kwaliteit kunnen ondersteunen.

Misschien bent u ook geïnteresseerd in

Ontdek de producten, toepassingsinformatie, diensten, e-learning en evenementen van NETZSCH die betrekking hebben op de karakterisering van halfgeleiders, elektronica en functionele materialen.

AI Overview
An error occurred. Please try again.