Vinkkejä ja niksejä

DSC- ja TGA-mittaustuloksiin vaikuttavat tekijät

Vian tai puutteen alkuperän selvittämiseksi raaka-aineiden valmistajien ja jalostajien DSC- ja TGA-mittaustuloksia verrataan huolellisesti paitsi eri laboratorioiden suorittamissa kiertokokeissa myös vika-analyyseissä erityisesti muoviosien kaltaisilla aloilla.

Sekä toimittaja- että asiakaspuolen toimijat keskustelevat tietenkin keskenään mittausparametreista, mutta usein he yllättyvät huomatessaan, että mittauskuvioissa on edelleen eroja - puhumattakaan mittauskäyrien erilaisista tulkinnoista.

Seuraavassa taulukossa esitetään yleiskatsaus DSC- ja TGA-mittaustuloksiin vaikuttavista monista eri kriteereistä sekä kunkin kriteerin kuvaus.

Vaikuttava tekijäKriteeriSuositukset/esimerkkejä
Näytteen valmisteluNäytteenottonäytteenottokohta polymeerimuotissa, lähellä porttia/kaukana portista
Näytteen valmisteluleikkaaminen skalpellilla, lävistys
Näytteen esikäsittelykarkaisu määritellyissä varastointilämpötiloissa, kosteus
Näytteen massanäytteen paino 10 +/-0,1 mg
Näytteen TiheysMassatiheys määritellään massan ja tilavuuden suhteena. tiheyserityisen tärkeää jauheiden osalta (irtotiheys)
Näytteen muoto, pintalitteä levy, jotta DSC-anturin kosketuspinta-ala on large
DSC/TGA-laiteAnturin tyyppitermoelementin ja näytteen kantajan tyyppi
Lämpötilan kalibrointiriippuu lämmitysnopeudesta
Herkkyyskalibrointiriippuu ilmakehästä, upokkaasta ja anturityypistä (termopari)
Puhdistuskaasun tyyppi (näytettä ympäröivä ilmakehä)inertti kaasu (esim. typpi) tai reaktiokaasu (esim. happi)
Puhdistuskaasun virtaus20 ml/min
Suojakaasun virtaus50 ml/min typpeä kondensaatiovaikutusten välttämiseksi matalissa lämpötiloissa
Jäähdytystyyppisisäjäähdytin, nestemäinen typpi, ilmakompressori DSC:tä varten
Tyhjiöliuottimien kiehumispisteen alentaminen, pehmittimet TGA:ta varten
Peruslinjojen ajautumiskäyttäytyminentGA/STA:ssa ja DSC:ssä
KelluvuuskäyttäytyminentGA/STA:ssa
MittausparametritLämpötila-alueloppulämpötila max. 40 K yli viimeisen odotetun lämpövaikutuksen DSC:n osalta
Lämmitys-/jäähdytysnopeus10 K/min
Uudelleenlämmityspolymeerien DSC-mittauksissa tarvitaan toinen lämmitys, koska ensimmäinen lämmitys sisältää myös termomekaanisen historian
Lämpötila-/aikaohjelmaTM-DSC, isotermiset vaiheet lineaarisen lämmitysnopeuden sijasta
Upokkaiden tyyppi (muoto, materiaali, tilavuus)upokkaat, joissa on lävistetty kansi, paineupokkaat polykondensaatiota varten, upokkaiden materiaalin LämmönjohtavuusLämmönjohtavuus (λ, yksikkö W/(m-K)) kuvaa lämmön muodossa olevan energian kulkeutumista massakappaleen läpi lämpötilagradientin vaikutuksesta (ks. kuva 1). Termodynamiikan toisen lain mukaan lämpö virtaa aina alemman lämpötilan suuntaan.lämmönjohtavuus, näytteen ja upokkaiden materiaalin yhteensopivuus
DSC/STA:n referenssiupokastyhjä tai inertillä materiaalilla täytetty
Kaasun muutosHapen induktioaika, Oksidatiivisen induktion aika (OIT) ja oksidatiivisen alkamislämpötila (OOT)Oksidatiivinen induktioaika (isoterminen OIT) on suhteellinen mittari, jolla mitataan (stabiloidun) materiaalin vastustuskykyä hapettuvalle hajoamiselle. Oksidatiivinen induktiolämpötila (dynaaminen OIT) tai oksidatiivinen alkamislämpötila (Oxidative-Onset Temperature, OOT) on (stabiloidun) materiaalin oksidatiivisen hajoamisen vastustuskyvyn suhteellinen mitta.OIT, happi-ilmakehässä
Korjausmittauskorjausmittauksen huomioon ottaminen (esim. kelluvuus TGA:ssa)
Käyrän arviointiMittauskäyrien tasoittaminenvältetään liian suurta tasoituskerrointa
Perusviivan korjausBeFlat® dSC:n osalta
Aikavakion ja lämpöresistanssin korjausTau-R® Mode dSC:n osalta
ArviointistandarditISO 11357 lasisiirtymän keskilämpötilaa varten tai lineaarinen perusviiva sulamisentalpia DSC:tä varten
Edistyneet laskelmatKiteisyys / kiteisyysasteKiteisyydellä tarkoitetaan kiinteän aineen rakenteellisen järjestyksen astetta. Kiteessä atomien tai molekyylien järjestys on johdonmukainen ja toistuva. Monet materiaalit, kuten lasikeramiikka ja jotkin polymeerit, voidaan valmistaa siten, että syntyy kiteisten ja amorfisten alueiden sekoitus. kiteisyysaste, kiinteän rasvan pitoisuus (SFC), kineettinen analyysi
AI Overview
An error occurred. Please try again.