熱膨張計DIL 402 Expedis Classicは、最先端の熱膨張計技術を提供し、広範囲かつ高度なアプリケーションに対応します。
DIL Expedisシリーズと同様に、Classicバージョンは新技術NanoEye 測定セルに特徴が有ります。
NanoEye – 全測定範囲でナノレベル評価を可能とします。
測定範囲と精度の新次元
従来の熱膨張測定では、測定範囲と分解能の二つのパラメーターは、相反するものと思われていました。分解能を高くすれば、通常、測定範囲は逆に小さくなります。新機軸のNanoEye 光電変換システムは、これまで実現が不可能であった全測定範囲における完全な直線性と最高の分解能を実現できるのが特徴です。
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機能原理
測定の間、試料が膨張した場合、図中の全ての緑色構成要素はリニアーガイド(青色表示)によって後方に移動します。光学エンコーダーが直接、対応する寸法変化を適切なスケールで計測します。
主要な特徴
一体型デザインと長寿命
DIL Expedis Classicは、シングル或いはデュアル/差動型システムとして選択可能。両方のバージョン共、全てのハードウエアを統合した一体型デザインを採用しています。不便な配線の絡みつきも無く、外部チラーユニットも必要ありません。
Expedis Classicは、メンテナンスフリーの稼働、少ない作業量、長寿命、簡略化された安全な操作によって、スムーズな作業をサポートします。システムデザインは、破損のリスク無く、簡単に試料ホルダー等を交換することが可能です。
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主要な特徴
容易な操作
主な簡略化は、オペレーターにより設定されたルーチン測定のベースを用いてスタートが可能です。
MultiTouch機能は、テールライク動作を用いて、試料を最適位置に調整・配置します。そして、事前設定された接触負荷における初期試料長が自動的に計測されます。加熱炉は安定した試料位置を保証する緩衝作用によりスムーズに閉められます。
加熱炉の交換は簡単で、細かい作業・経験は必要ありません。また測定開始には、2,3回のクリックのみです。
主要な特徴
接触負荷制御
接触負荷制御は、微小試料、繊細試料、脆弱試料や発泡材試料などを破損や変形リスク無しに測定が行え、全測定時間に渡り、接触圧力を一定に保持することが可能です。
また、この機能は測定者に関係なく、試料長測定の高い再現性を可能にします。測定システム内の、滑りや転がり摩擦、スティック・スリップ現象等の影響も回避されます。
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技術仕様
加熱速度
試料ホルダーシステム
測定システム
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測定温度範囲(加熱炉による)
RT ~ 1600 ℃
温度精度
1 K
温度再現性
0.1 K
熱膨張係数(Coefficient of Linear Thermal Expansion (CLTE/CTE) The coefficient of linear thermal expansion (CLTE) describes the length change of a material as a function of the temperature.CTE)測定再現性
10-8 1/K
測定範囲
± 5000 μm
分解能
2 nm (全測定範囲に渡り)
ガス制御
1系統、オプションで3系統切換え
応用文献
![](https://analyzing-testing.netzsch.com/_Resources/Persistent/3/1/8/b/318b5cc61f48104c5bb795c97577ea89d4a71a92/Footage_NETZSCH_67-1920x1079-1650x927.webp)